Рушайло, Б. Е. Патентный поиск в базе данных ВОИС / Б. Е. Рушайло // Патенты и лицензии. - 2014. - № 5. - С. 49-51. - Библиогр.: с. 51 (1 назв.) Рубрики: ПРАВО. ЮРИДИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПОИСК ПАТЕНТНЫЙ -- ВСЕМИРНАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ -- ВОИС Аннотация: Проведение патентного поиска обычно включает два этапа. На первом этапе ведется поиск по российским, на втором – по зарубежным патентным фондам. Это создает неудобства как при самом поиске (приходится использовать разные программные продукты), так и при анализе и составлении отчетов после его проведения (всю последующую обработку приходится выполнять вручную). Предлагаемый канд. техн. наук Б. Е. Рушайло (Москва, rubr@mail.ru) подход, основанный на использовании баз данных ВОИС, позволяет вести одновременный поиск по зарубежным и российским патентам с последующей обработкой в системе «Патент-аналитик», что существенно снижает трудоемкость патентных исследований. |