Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Don H,, Ying Bai, Заглавие : Использование патентного анализа при определении тенденций исследований и рпзработок Место публикации : Патентная информация сегодня. - 2007. - N 2. - С. 23 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): патентный анализ--тенденция исследований Доп.точки доступа: Ying, Bai,