Microelectronics and Reliability [Текст] = Микроэлектроника : An International Journal & World Abstracting Service. - Oxford ; New York : [s. n.], 1969 - . - Выходит раз в два месяца. - ISSN 0026-2714
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА -- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ -- ТЕОРИЯ НАДЕЖНОСТИ