Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Смирнов М. В., Буров Г. В., Антонов Б. Д. Заглавие : Термическое расширение кристаллов KBr, KI и RbI при высоких температурах Место публикации : Тр. / Ин-т электрохимии УНЦ АН СССР. - Свердловск, 1973. - Вып. 20: Электрохимия расплавленных солевых и твердых электролитов. - С. 13-15 ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): расширение термическое--термическое расширение--kbr--ki--rbi--температуры высокие--высокие температуры--бромид калия--иодид калия--иодид рубидия--решетка кристаллическая--кристаллическая решетка--калий--рубидий--k--rb--дефект френкелевский--френкелевский дефект--дефекты точечные--точечные дефекты Аннотация: Измерены параметры кристаллических решеток KBr, KI и RbI в широком интервале температур. Показано, что температурная зависимость параметра решетки описывается двумя уравнениями: от 20 до 450-550 С - второго порядка, от 450-550 С до точки плавления - третьего. Аномальное расширение решетки выше 450-550 С связано с образованием точечных дефектов двух типов, причем перед точкой плавления образуются преимущественно дефекты по Френкелю Доп.точки доступа: Буров, Г. В.; Антонов, Б. Д.; Институт высокотемпературной электрохимии УрО РАН