Вид документа : Статья из сборника (однотомник) Шифр издания : 54/С 84 Автор(ы) : Стрекаловский В. Н., Малков В. Б., Вовкотруб Э. Г. Заглавие : Диагностика нановеществ методами сканирующей электронной микроскопии и микро-раман-спектроскопии Место публикации : III Юбилейная Урало-Сибирская научно-промышленная выставка "Научно-промышленная политика и перспективы развития Урала и Сибири", Екатеринбург, 19-23 июня . - Екатеринбург, 2007. - С. 317. Примечания : Библиогр.: с. 318 (4 назв.) ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Малков, В. Б.; Вовкотруб, Э. Г.; Институт высокотемпературной электрохимии УрО РАН