Ш 66 Шкерин, С. Н. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия поверхности твердого электролита La0.88Sr0.12Ga0.82Mg0.18O3-альфа [] / С. Н. Шкерин, М. В. Кузнецов, Н. А. Калашникова // Электрохимия. - 2003. - Т. 39, N 6. - 659-668: граф., табл. - Библиогр.: с. 668 (20 назв.) . - ISSN 0424-8570 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТИ -- ТВЕРДЫЕ ЭЛЕКТРОЛИТЫ -- ЭЛЕКТРОЛИТЫ ТВЕРДЫЕ -- La0.88Sr0.12Ga0.82Mg0.18O3-АЛЬФА -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ ОТЖИГ -- ОТЖИГ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ -- АТМОСФЕРА CO2 -- ГАЛЛАТ ЛАНТАНА -- ЛЕГИРОВАНИЕ -- ОКСИД СТРОНЦИЯ -- ГИДРОКСИД ЛАНТАНА Аннотация: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии исследованы состав и химическое состояние элементов на поверхности твердого кислород-проводящего электролита La0.88Sr0.12Ga0.82Mg0.18O3-альфа до и после высокотемпературного отжига (T = 973 K) в атмосфере CO2. Показано, что продукты взаимодействия легированного галлата лантана с диоксидом углерода локализованы в поверхностном слое толщиной 8-10 нм. Отжиг в CO2-атмосфере не приводит к образованию на поверхности электролита химических соединений углерода с металлами. Поверхностные слои как в исходном электролите, так и после выдержки в CO2 обогащены оксидом стронция, на поверхности присутствует гидроксид лантана |