Э 45 Электронно-микроскопическое исследование структуры соединения La2-xSrxCuO4 с различным содержанием стронция [] / А. В. Добромыслов, Г. В. Долгих, Г. Г. Талуц, А. Н. Борычев, В. А. Фотиев, В. Л. Кожевников, С. М. Чешницкий // Проблемы высокотемпературной проводимости: Информ. материалы. - 1987. - Ч. 1. - С. 124-127 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- La2-xSrxCuO4 -- La -- Sr -- Cu -- ЛАНТАН -- СТРОНЦИЙ -- МЕДЬ -- КУПРАТЫ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ ПРОВОДИМОСТЬ -- ПРОВОДИМОСТЬ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ -- ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ -- ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ |