К 93 Курлов, А. С. Определение размера частиц, микронапряжений и степени негомогенности в наноструктурированных веществах методом рентгеновской дифракции [Текст] / А. С. Курлов, А. И. Гусев // Физика и химия стекла. - 2007. - Т. 33, № 3. - С. 383-392 : рис., граф. - Библиогр.: с. 391-392 (15 назв.) . - ISSN 0132-6651 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОНАПРЯЖЕНИЯ -- НЕГОМОГЕННОСТЬ -- КАРБИД ВОЛЬФРАМА -- НАНОКРИСТАЛЛЫ -- ПОРОШКИ -- WC -- МЕТОД РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ |