К 89 Кузнецов, М. В. Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел / М. В. Кузнецов, И. И. Огородников, А. С. Ворох // Успехи химии. - 2014. - Т. 83, № 1. - С. 13-37 : ил. - Библиогр.: с. 35-37 (122 назв.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- ГОЛОГРАФИЯ -- НАНОСТРУКТУРА Аннотация: Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур |