Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/K 93 Автор(ы) : Kurlov A. S., Gusev A. I. Заглавие : Determination of the particle sizes, microstrains, and degree of inhomogeneity in nanostructured materials from X-ray diffraction data Место публикации : Glass Physics and Chemistry. - 2007. - Vol. 33, № 3. - С. 276-282 Примечания : Библиогр. : с. 282 (15 назв.) ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктурные материалы--рентгеновская дифракция--карбид вольфрама Аннотация: The mean particle size, the microstrains, and the degree of inhomogeneity in compacted and dispersed nanostructured materials are determined from the broadening of diffraction reflections. A method is described for separating the contributions from the small size of particles, the microstrains, and the inhomogeneity of materials to the broadening. The application of the proposed method is illustrated using a nanocrystalline powder of tungsten carbide WC. Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Gusev, A. I.; Гусев Александр Иванович