Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/С 87 Автор(ы) : Разинкин А. С., Огородников И. И., Титов А.Н., Кузнецов М. В. Заглавие : Структурные дефекты на поверхности 1T -TiSe2: эксперимент и модельные расчеты фотоэлектронной дифракции Место публикации : Известия РАН. Сер. физическая . - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1166-1169: ил. Примечания : Библиогр.: с. 1169 (5 назв.) ISSN: 0367-6765 ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дихалькогениды переходных металлов--селен--титан--дифракция фотоэлектронная Аннотация: Методами СТМ-микроскопии и рентгеновской фотоэлектронной дифракции (РФД) изучена поверхность 1T - TiSe2. Проведено моделирование дифракционных картин в приближении многократного рассеяния электронов в рамках EDAC-кода. Рассмотрены варианты точечных и структурных дефектов на поверхности 1T - TiSe2. Сопоставление экспериментальных и теоретических РФД-картин выполнено на основе анализа R-фактора их сходимости Доп.точки доступа: Разинкин, А. С.; Огородников, И. И.; Титов, А.Н.; Кузнецов, М. В.