Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 54/К 89 Автор(ы) : Кузнецов М. В., Огородников И. И., Ворох А. С. Заглавие : Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел Место публикации : Успехи химии. - 2014. - Т. 83, № 1. - С. 13-37: ил. Примечания : Библиогр.: с. 35-37 (122 назв.) ISSN: 0042-1308 ББК : 54 Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская фотоэлектронная дифракция--голография--наноструктура Аннотация: Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур Доп.точки доступа: Огородников, И. И.; Ворох, А. С.