В34 W 29 Waseda, Yoshio. Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization. Atomic-Scale Structure Determination : монография / Y. Waseda. - Berlin [et al.] : Springer, 2002. - XIII, 214 с. : ил., табл. - (Springer Tracts in Modern Physics ; vol. 179) (Physics and Astronomy Online Library). - Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 211-214. - ISBN 3-540-43443-7 : 4344.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--ОПТИКА Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |