Ж3 В 26 Векилова, Галина Владимировна. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учебное пособие / Г. В. Векилова, А. Н. Иванов, Ю. Д. Ягодкин ; Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС", Каф. физического материаловедения. - Москва : Изд. Дом МИСиС, 2009. - 144 с. : фот. - (Национальный исследовательский технологический университет МИСиС ; № 1296). - ISBN 978-5-87623-228-1 : 179.08 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛЫ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |