Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 538/С 42 Автор(ы) : Криштал, Михаил Михайлович, Ясников, Игорь Станиславович, Полунин, Виктор Иванович, Филатов, Анатолий Михайлович, Ульяненков, Александр Григориевич Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов Выходные данные : Москва: Техносфера, 2009 Колич.характеристики :206 с Серия: Мир физики и техники ISBN, Цена 978-5-94836-200-7: 343.15 р. ГРНТИ : 29.35.43 ББК : 538.648я73 Предметные рубрики: ФИЗИКА-- МАГНЕТИЗМ Экземпляры :кх(1) Свободны : кх(1) Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович; Ясников, Игорь Станиславович; Полунин, Виктор Иванович; Филатов, Анатолий Михайлович; Ульяненков, Александр Григориевич