Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : В34/F 96 Автор(ы) : Fultz, Brent, Howe, James M. Заглавие : Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials . -2nd Ed. Выходные данные : Berlin [et al.]: Springer, 2002 Колич.характеристики :XXI, 748 с.: ил. Серия: Physics and Astronomy Online Library Примечания : Указ.: с. 734-748 ISBN, Цена 3-540-43764-9: 2743.00 р. ББК : В341.241 + 538.648 Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ОПТИКА-- МАГНЕТИЗМ Экземпляры : всего : ч/з(1), кх(1) Свободны : ч/з(1), кх(1) Доп.точки доступа: Howe, James M.