Инвентарный номер: нет. И 39 Потехина, Н. Д. Изучение свободных электронных состояний нанокластеров металлов методом ультрафиолетовой спектроскопии / Н. Д. Потехина, С. М. Соловьев // Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 3-4. - С. 51-55 : рис. - Библиогр. : с. 55 (25 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОКЛАСТЕРЫ МЕТАЛЛОВ -- МЕТОД УЛЬТРАФИОЛЕТОВОЙ СПЕКТРОСКОПИИ -- СОСТОЯНИЯ ЭЛЕКТРОННЫЕ СВОБОДНЫЕ -- НАНОКЛАСТЕРЫ МЕДИ Аннотация: Метод УФ спектроскопии использован для изучения электронных состояний, связанных с потенциалом изображения электрона в металле и называемых в литературе Image state (IS). Возбужденный в эти состояния электрон удерживается там силами изображения, перемещаясь вдоль поверхности, обладает значительным временем жизни и может оказывать значительное влияние на электронные свойства поверхности. В качестве объекта исследования была использована поверхность SiO2 со сформированными на ней нанокластерами меди. Образец облучался светом с энергией фотонов 3.8-6 эВ. В результате анализа тонкой структуры полученных фотоэлектронных спектров были получены сведения о свободных электронных состояниях нанокластеров меди, сформированных на SiO2. Было показано, что особенности, отождествляемые с IS, наблюдаются только в фотоэлектронных спектрах, полученных для кластеров. В спектрах для многослойных пленок, как и для монокристаллов меди, подобные особенности отсутствуют и наблюдение IS данным методом невозможно |