И 88 Исследование физико-химических свойств поверхности политетрафторэтилена методом ик-спектроэллипсометрии / М. О. Макеев [и др.] // Нанотехника. - 2011. - № 3. - С. 27-32 : рис., табл. - Библиогр. : с. 32 (29 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ИК-СПЕКТРОЭЛЛИПСОМЕТРИЯ -- ПТФЭ -- МОДИФИКАЦИЯ В НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПЛАЗМЕ -- КОНСТАНТЫ ОПТИЧЕСКИЕ -- ШЕРОХОВАТОСТЬ -- МОДЕЛЬ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКАЯ Аннотация: Методом ИК-спектроэллипсометрии проведено исследование воздействия низкотемпературной плазмы на поверхность ПТФЭ. Определена толщина модифицированного в плазме слоя, его оптические константы, а также изучено изменение шероховатости поверхности образца. Установлено, что толщина шероховатого слоя в результате обработки уменьшается от 380 + 19 нм до 353 + 16 нм, а толщина модифицированного слоя под шероховатым составляет 732 + 37 нм |