А 64 Аналитическая система «CompleXRay» для рентгеновской диагностики наноструктур / А. Г. Турьянский, В. И. Анисимов, Н. Д. Бейлин, Н. Н. Герасименко, С. С. Гижа, В. Е. Капустянов, И. В. Пиршин, В. М. Сенков, Д. И. Смирнов // Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 7-12 : рис. - Библиогр.: с. 12 (4 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРЫ -- ШЕРОХОВАТОСТЬ ПОВЕРХНОСТИ -- АНАЛИЗ ФЛЮОРЕСЦЕНТНЫЙ -- МОНОХРОМАТОРЫ ПИРОГРАФИТОВЫЕ -- ДИАГНОСТИКА РЕНТГЕНОВСКАЯ -- РАССЕЯНИЕ МАЛОУГЛОВОЕ -- РЕФРАКТОМЕТРИЯ -- РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ Аннотация: Описана измерительная схема и функциональные возможности аналитического комплекса «CompleXRay» на базе рентгеновского рефлектометра |