623 А 59 Альфорд, Терри Л.. Фундаментальные основы анализа нанопленок [] : переводное издание / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер ; науч. ред. А. Н. Образцов ; пер. с англ. М. А. Долганов ; МГУ им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamentals of Nanoscale film analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer. - Teh USA, 2007. - ISBN 978-5-91522-225-9 : 523.06 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ --СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ |