И 37 Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ / А. К. Гатин, М. В. Гришин, А. А. Кирсанкин, М. А. Кожушнер, В. С. Посвянский, В. А. Харитонов, Б. Р. Шуб // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 51-60 : рис., табл. - Библиогр.: с. 60 (26 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПЛЕНКИ ТОНКИЕ ОКСИДНЫЕ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- СТРУКТУРА -- ПЛЕНКИ -- СТМ Аннотация: В работе представлен способ определения локальных толщин и параметров электронной структуры тонких оксидных пленок, а также абсолютных значений расстояния между острием сканирующего туннельного микроскопа и поверхностью исследуемого образца |