Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/Б 94 Автор(ы) : Бухараев А. А., Зиганшина С. А., Чукланов А. П. Заглавие : АСМ-метрология наночастиц, полученных электрохимическим осаждением Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 5-6 . - С. 87-94: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223 Примечания : Библиогр. : с. 94 (19 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): асм-метрология наночастиц--эффект конволюции--осаждение электрохимическое Аннотация: В данной работе рассматривается проблема получения на основании данных атомно-силовой микроскопии (АСМ) достоверной информации о распределении по размерам наночастиц, лежащих на неровной поверхности или слипшихся между собой. Предлагается метод для уменьшения искажающего влияния упомянутых выше факторов. Приводятся результаты моделирования, показывающие работоспособность разработанного алгоритма, а также результаты обработки экспериментальных АСМ-изображений наночастиц Ni, проявляющих каталитическую активность при электроокислении этанола. Оценивается влияние эффекта конволюции на наблюдаемые размеры и площадь наночастиц Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Зиганшина, С. А.; Чукланов, А. П.