Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/Е 51 Автор(ы) : Елкин С. В., Лабурцева В. А. Заглавие : Исследование индекса экспертных оценок Место публикации : Нанотехника. - 2010. - № 1. - С. 6-10: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498 Примечания : Библиогр. : с. 10 (1 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): индекс экспертных оценок--таблица сравнительная--область нанотехнологий Аннотация: По результатам опроса 18 экспертов в области нанотехнологий была составлена сравнительная таблица состояния дел в области нанотехнологий в России и США. Технологии оценивались по пяти факторам: степени принадлежности к нанотехнологиям, по степени интегрированности в комплекс технологий, по фазе разработки и внедрения, по адаптивным возможностям экономики и по степени влияния на экономику. В результате математической обработки количественно измерен нанотехнологический сдвиг в России и США. Отношение сдвигов составило 1,6 раза, а с учетом разницы в числе патентов примерно 45 раз Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Лабурцева, В. А.