Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/И 39 Автор(ы) : Потехина Н. Д., Соловьев С. М. Заглавие : Изучение свободных электронных состояний нанокластеров металлов методом ультрафиолетовой спектроскопии Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 3-4. - С. 51-55: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223 Примечания : Библиогр. : с. 55 (25 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Аннотация: Метод УФ спектроскопии использован для изучения электронных состояний, связанных с потенциалом изображения электрона в металле и называемых в литературе Image state (IS). Возбужденный в эти состояния электрон удерживается там силами изображения, перемещаясь вдоль поверхности, обладает значительным временем жизни и может оказывать значительное влияние на электронные свойства поверхности. В качестве объекта исследования была использована поверхность SiO2 со сформированными на ней нанокластерами меди. Образец облучался светом с энергией фотонов 3.8-6 эВ. В результате анализа тонкой структуры полученных фотоэлектронных спектров были получены сведения о свободных электронных состояниях нанокластеров меди, сформированных на SiO2. Было показано, что особенности, отождествляемые с IS, наблюдаются только в фотоэлектронных спектрах, полученных для кластеров. В спектрах для многослойных пленок, как и для монокристаллов меди, подобные особенности отсутствуют и наблюдение IS данным методом невозможно Держатели документа: Центральная научная библиотека УрО РАН Доп.точки доступа: Соловьев, С. М.