Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/Р 17 Автор(ы) : Голубев С. С., Кудеяров Ю. А., Малюченко В. М., Жерлев А. В., Смирнова Н. И., Сотников Д. В. Заглавие : Разработка метрологического комплекса для аттестации существующих и вновь разрабатываемых экспресс-тестов. метод градуировочных характеристик для построения калибровочных кривых экспресс-тестов Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 105-109: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223 Примечания : Библиогр.: с. 109 (11 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): экспресс-тесты иммунохроматографические--бензодиазипины --величина--метод градуировочных характеристик --кривые калибровочные--комплекс метрологический--аттестация Аннотация: В настоящей работе описывается созданный метрологический комплекс для аттестации иммунохроматографических экспресс-тестов. Он позволяет определять градуировочные характеристики экспресс-тестов, вычислять риски ложного срабатывания и определять параметры компонентов создаваемых тест-систем. Его применение позволяет говорить о результатах количественных экспресс-тестов как о метрологически обеспеченных величинах. Кроме того, в настоящей работе детально рассмотрен алгоритм построения градуировочных характеристик экспресс-тестов, изложенный в соответствующей методике измерений, входящей в состав метрологического комплекса на примере двух тест-систем для бензодиазипинов и для маркеров туберкулеза Доп.точки доступа: Голубев, С. С.; Кудеяров, Ю. А.; Малюченко, В. М.; Жерлев, А. В.; Смирнова, Н. И.; Сотников, Д. В.