Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 620.3/М 92 Автор(ы) : Мухин Д., Яминский И. Заглавие : Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35: рис., табл. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578 Примечания : Библиогр.: с. 35 (10 назв.) УДК : 620.3 ББК : 623.7 Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующий микроскоп--центр масс Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью Доп.точки доступа: Яминский, И.