Ч-45 Черанев, А. В. Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур [] / А. В. Черанев, А. А. Уймин> // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург, 2003. - Вып. 6. - С. 117-127. - Библиогр.: с. 126-127 (6 назв.) Рубрики: ФИЗИКА Кл.слова (ненормированные): ТЕМПЕРАТУРОПРОВОДНОСТЬ -- СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- МЕТОД ТЕРМОМОДУЛЯЦИОННОЙ ЛАЗЕРНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- НИЗКИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРЫ НИЗКИЕ -- МЕТОД НУЛЬ-ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ -- ПАРАМЕТРЫ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ -- ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ -- ЗАВИСИМОСТИ ТЕМПЕРАТУРНЫЕ |
Ч-45 Черанев, А. В. Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур [] / А. В. Черанев, А. А. Уймин> // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург, 2003. - Вып. 6. - С. 117-127. - Библиогр.: с. 126-127 (6 назв.) Рубрики: ФИЗИКА Кл.слова (ненормированные): ТЕМПЕРАТУРОПРОВОДНОСТЬ -- СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- МЕТОД ТЕРМОМОДУЛЯЦИОННОЙ ЛАЗЕРНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- НИЗКИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРЫ НИЗКИЕ -- МЕТОД НУЛЬ-ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ -- ПАРАМЕТРЫ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ -- ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ -- ЗАВИСИМОСТИ ТЕМПЕРАТУРНЫЕ |