Web ИРБИС

Инвентарный номер: нет.

   Ч-45

    Черанев, А. В.
    Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур [] / А. В. Черанев, А. А. Уймин // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург, 2003. - Вып. 6. - С. 117-127. - Библиогр.: с. 126-127 (6 назв.)

ББК 53
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРОПРОВОДНОСТЬ -- СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- МЕТОД ТЕРМОМОДУЛЯЦИОННОЙ ЛАЗЕРНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- НИЗКИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРЫ НИЗКИЕ -- МЕТОД НУЛЬ-ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ -- ПАРАМЕТРЫ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ -- ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ -- ЗАВИСИМОСТИ ТЕМПЕРАТУРНЫЕ

request_decrypt("(<.>K=МЕТОД ТЕРМОМОДУЛЯЦИОННОЙ ЛАЗЕРНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ<.>)","");