Инвентарный номер: нет.
   
   Ч-45


    Черанев, А. В.
    Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур [] / А. В. Черанев, А. А. Уймин // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург, 2003. - Вып. 6. - С. 117-127. - Библиогр.: с. 126-127 (6 назв.)
ББК 53
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРОПРОВОДНОСТЬ -- СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- МЕТОД ТЕРМОМОДУЛЯЦИОННОЙ ЛАЗЕРНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- НИЗКИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРЫ НИЗКИЕ -- МЕТОД НУЛЬ-ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ -- ПАРАМЕТРЫ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ -- ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ -- ЗАВИСИМОСТИ ТЕМПЕРАТУРНЫЕ


Инвентарный номер: нет.
   
   П 76


   
    Применение метода лазерной термомодуляционной эллипсометрии для определения локальных свойств металлов : сборник научных трудов / А. А. Уймин, А. В. Черанев, И. Г. Коршунов, В. В. Шангин, А. А. Старостин // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург : Изд-во УрО РАН, 2001. - Вып.5. - С. 167-177. - Библиогр.: с. 177 (9 назв.)
ББК 53
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ДИАГНОСТИКА ЛАЗЕРНАЯ -- СВОЙСТВА ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИЕ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ ЛАЗЕРНАЯ


Инвентарный номер: нет.
   
   Ч-45


    Черанев, А. В.
    Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур [] / А. В. Черанев, А. А. Уймин // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург, 2003. - Вып. 6. - С. 117-127. - Библиогр.: с. 126-127 (6 назв.)
ББК 53
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРОПРОВОДНОСТЬ -- СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ СУБМИКРОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- МЕТОД ТЕРМОМОДУЛЯЦИОННОЙ ЛАЗЕРНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- НИЗКИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРЫ НИЗКИЕ -- МЕТОД НУЛЬ-ЭЛЛИПСОМЕТРИИ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ -- ПАРАМЕТРЫ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ -- ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ -- ЗАВИСИМОСТИ ТЕМПЕРАТУРНЫЕ


Инвентарный номер: нет.
   
   П 76


   
    Применение метода лазерной термомодуляционной эллипсометрии для определения локальных свойств металлов : сборник научных трудов / А. А. Уймин, А. В. Черанев, И. Г. Коршунов, В. В. Шангин, А. А. Старостин // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сб. науч. тр. / Ин-т теплофизики УрО РАН. - Екатеринбург : Изд-во УрО РАН, 2001. - Вып.5. - С. 167-177. - Библиогр.: с. 177 (9 назв.)
ББК 53
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
ДИАГНОСТИКА ЛАЗЕРНАЯ -- СВОЙСТВА ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИЕ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ ЛАЗЕРНАЯ