Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИГД УрО РАН
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 18

    Шалаева, Е. В.
    Рентгеновская фотоэлектронная дифракция. Возможности структурного анализа поверхности [] = X-Ray photoelectron diffraction. Surface structure analysis ability : обзор / Е. В. Шалаева, М. В. Кузнецов // Журнал структурной химии. - 2003. - Т. 44, N 3. - 518-552: табл., граф. - Библиогр.: с. 548-552 (241 назв.) . - ISSN 0136-7463
ББК 54
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДИФРАКЦИЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- ПОВЕРХНОСТИ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- РФД -- СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- АНАЛИЗ СТРУКТУРНЫЙ -- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА -- РАССЕЯНИЕ ПЛОСКИХ ВОЛН -- РАССЕЯНИЕ СФЕРИЧЕСКИХ ВОЛН -- ФОТОЭЛЕКТРОНЫ -- МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОВЕРХНОСТИ -- ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- АДСОРБЦИЯ
Аннотация: Проведено систематическое изложение современного состояния метода рентгеновской фотоэлектронной дифракции (РФД) и его приложений в химии поверхности твердых тел. Даны основы метода и рассмотрен ряд подходов его описания: в приближении однократного рассеяния плоских и сферических волн, многократного рассеяния сферических волн, прямого рассеяния и рассеяния s-фотоэлектронов. Отмечена роль начального и конечных состояний фотоэлектронной волны, описаны варианты РФД со сканированием по углам и энергии, приведен математический аппарат фотоэлектронной голографии. Рассмотрены особенности использования фотоэлектронной дифракции при изучении поверхностей монокристаллов, эпитаксиальных слоев и адсорбционных систем металл-газ с локализацией адсорбата на поверхности и в приповерхностных слоях. Обсуждается накопленный экспериментальный материал, дается оценка теоретическим расчетам фотоэлектронной дифракции в приближениях однократного и многократного рассеяния ...

Найти похожие
2.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 18

    Шалаева, Е. В.
    Рентгеновская фотоэлектронная дифракция на поверхности (110)Nb [] = X-ray Photoelectron Diffraction by Nb(110) Surface / Е. В. Шалаева, М. В. Кузнецов // Физика металлов и металловедение. - 2003. - Т. 96, N 5. - 79-86: ил. - Библиогр.: с. 86 (30 назв.) . - ISSN 0015-3230
ББК 54
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРА -- ФАЗОВЫЕ ПРЕВРАЩЕНИЯ -- ПРЕВРАЩЕНИЯ ФАЗОВЫЕ -- ДИФФУЗИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- Nb -- НИОБИЙ -- ПОВЕРХНОСТИ -- ЭНЕРГИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- ЭПИТАКСИАЛЬНЫЕ СЛОИ -- СЛОИ ЭПИТАКСИАЛЬНЫЕ
Аннотация: Представлены результаты экспериментального и теоретического исследования рентгеновской фотоэлектронной дифракции чистой грани ниобия (110)Nb и эпитаксиальных слоев Nb(Ta)/(110)Nb. Дифракционная 2пи-картина поверхности (110)Nb получена в излучении Nb3d-фотоэлектронов (E кин. ~ 1050 эВ) и обсуждается в рамках моделей однократного (SSC-SW) и многократного (MSC-SW) рассеяния фотоэлектронов. Продемонстрированы ограничения подхода однократного рассеяния при описании угловых РФД-зависимостей грани (110)Nb. Показано, что поверхность (110) ниобия хорошо описывается MSC-SW-моделью шестислойного кластера с ОЦК-структурой, рассчитаны параметры многократного рассеяния, определяющие экспериментальный эффект ослабления интенсивности фотоэмиссии (эффект "дефокусировки") для плотноупакованных направлений [100] и [111]. Осаждение тантала на (110)Nb при T ~ 2300 K приводит к формированию эпитаксиального слоя (110) неупорядоченного ОЦК-твердого раствора Nb(Ta)

Найти похожие
3.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 89

    Кузнецов, М. В.
    Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел / М. В. Кузнецов, И. И. Огородников, А. С. Ворох // Успехи химии. - 2014. - Т. 83, № 1. - С. 13-37 : ил. - Библиогр.: с. 35-37 (122 назв.)
ББК 54
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- ГОЛОГРАФИЯ -- НАНОСТРУКТУРА
Аннотация: Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур

Найти похожие
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика