Л 84 Лукин, Н. В. Возможность использования рентгенографических методов для исследования тонких пленок и поверхностных слоев поликристаллических образцов [] / Н. В. Лукин, С. И. Алямовский> // Поверхность и новые материалы: 1-я Урал. конф. (27-29 нояб. 1984 г.): Тез. науч. сообщ. - 1984. - Т. 1. - С. 197 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- МЕТОД РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СЛОИ -- СЛОИ ПОВЕРХНОСТНЫЕ -- ПОЛИКРИСТАЛЛЫ |
Л 84 Лукин, Н. В. Возможность использования рентгенографических методов для исследования тонких пленок и поверхностных слоев поликристаллических образцов [] / Н. В. Лукин> // Влияние нестехиометрии на свойства соединений переходных металлов. - 1986. - С. 19-25 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- МЕТОД РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СЛОИ -- СЛОИ ПОВЕРХНОСТНЫЕ -- ПОЛИКРИСТАЛЛЫ |
Р 39 Рентгенографическое уточнение кристаллической структуры кластерного соединения Ba4Nb17O26 [] / В. Г. Зубков, В. А. Переляев, А. П. Тютюнник, И. А. Концевая, О. В. Макарова, Г. П. Швейкин> // Доклады Академии наук. - 1992. - Т. 325, N 4. - С. 740-745 . - ISSN 0869-5652 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- Ba4Nb17O26 -- МЕТОД РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА -- СТРУКТУРА КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ -- КЛАСТЕРЫ |