И 88 Исследование нанокристаллических пленок сульфида кадмия методом скользящего рентгеновского пучка [Текст] = A Study of Cadmium Sulfide Nanocrystalline Films by Grazing Incidence X-Ray Diffraction / Н. С. Кожевникова, А. А. Ремпель, Ф Хегерт, А. Магерль // Журнал физической химии. - 2007. - Т. 81, № 5. - С. 887-892 : рис., табл. - Библиогр.: с. 892 (18 назв.) . - ISSN 0044-4537 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ -- СУЛЬФИД КАДМИЯ -- МЕТОД СКОЛЬЗЯЩЕГО РЕНТГЕНОВСКОГО ПУЧКА -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ Аннотация: Тонкие пленки сульфида кадмия получены на подложках из монокристаллического кремния химическим осаждением из водных растворов. Методом скользящего рентгеновского пучка показано, что пленки сульфида кадмия образованы нанокристаллическими частицами; ~ 80 % всех чатиц имеют размер 5+или- 1 нм, некоторые частицы имеют структуру вюрцита, а некоторые - сфалерита. Сделан вывод, что присутствие в пленках кубической фазы свидетельсьвует о неравновесном состоянии нанокристаллических пленок. Показано, что после 30 мин. от начала химической реакции образования сульфида кадмия размер формирующих пленки частиц и их кристаллическая структура не зависят от времени осаждения, увеличивается лишь толщина пленки. Кроме того, показано, что начальный этап образования пленки сульфида кадмия сопровождается осаждением гидроксида кадмия Cd(OH)2 |