Инвентарный номер: нет.        Ш 18     Шалаева, Е. В.     Рентгеновская фотоэлектронная дифракция. Возможности структурного анализа поверхности [] = X-Ray photoelectron diffraction. Surface structure analysis ability : обзор / Е. В. Шалаева, М. В. Кузнецов // Журнал структурной химии. - 2003. - Т. 44, N 3. - 518-552: табл., граф. - Библиогр.: с. 548-552 (241 назв.) . - ISSN 0136-7463ББК 54 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ДИФРАКЦИЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- ПОВЕРХНОСТИ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- РФД -- СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- АНАЛИЗ СТРУКТУРНЫЙ -- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА -- РАССЕЯНИЕ ПЛОСКИХ ВОЛН -- РАССЕЯНИЕ СФЕРИЧЕСКИХ ВОЛН -- ФОТОЭЛЕКТРОНЫ -- МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОВЕРХНОСТИ -- ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- АДСОРБЦИЯ Аннотация: Проведено систематическое изложение современного состояния метода рентгеновской фотоэлектронной дифракции (РФД) и его приложений в химии поверхности твердых тел. Даны основы метода и рассмотрен ряд подходов его описания: в приближении однократного рассеяния плоских и сферических волн, многократного рассеяния сферических волн, прямого рассеяния и рассеяния s-фотоэлектронов. Отмечена роль начального и конечных состояний фотоэлектронной волны, описаны варианты РФД со сканированием по углам и энергии, приведен математический аппарат фотоэлектронной голографии. Рассмотрены особенности использования фотоэлектронной дифракции при изучении поверхностей монокристаллов, эпитаксиальных слоев и адсорбционных систем металл-газ с локализацией адсорбата на поверхности и в приповерхностных слоях. Обсуждается накопленный экспериментальный материал, дается оценка теоретическим расчетам фотоэлектронной дифракции в приближениях однократного и многократного рассеяния ...