Б 17 Базуев, Г. В. Химия летучих бета-дикетонатов и их использование при синтезе тонких высокотемпературных сверхпроводящих пленок [] / Г. В. Базуев, Л. Д. Курбатова // Успехи химии. - 1993. - Т. 62, N 10. - С. 1037-1046 . - ISSN 0042-1308 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ДИКЕТОНАТЫ ЛЕТУЧИЕ -- ЛЕТУЧИЕ ДИКЕТОНАТЫ -- СИНТЕЗ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЕ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ -- СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ ПЛЕНКИ -- МАТЕРИАЛЫ ВТСП -- ВТСП -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ СВЕРХПРОВОДИМОСТЬ -- СВЕРХПРОВОДИМОСТЬ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ |
А 38 Акашев, Л. А. Оптические свойства жидкого европия [] = The optical properties of liquid europium / Л. А. Акашев, В. И. Кононенко // Расплавы. - 2000. - N 5. - С. 31-34. - Библиогр.: 8 назв. . - ISSN 0235-0106 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ -- ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- ЕВРОПИЙ ЖИДКИЙ -- ЖИДКИЙ ЕВРОПИЙ -- ЕВРОПИЙ -- Eu -- ПОКАЗАТЕЛЬ ПРЕЛОМЛЕНИЯ -- КОЭФФИЦИЕНТЫ ПОГЛОЩЕНИЯ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ -- МЕТОД БИТТИ -- БИТТИ МЕТОД -- ПРОВОДИМОСТЬ СВЕТОВАЯ -- СВЕТОВАЯ ПРОВОДИМОСТЬ -- ЭНЕРГИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- СПЕКТРЫ ИНФРАКРАСНЫЕ -- ИНФРАКРАСНЫЕ СПЕКТРЫ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СТРУКТУРА -- СТРУКТУРА ЭЛЕКТРОННАЯ -- РЕЛАКСАЦИЯ -- РЗМ -- РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ МЕТАЛЛЫ -- МЕТАЛЛЫ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ Аннотация: Изучены показатель преломления и коэффициент поглощения жидкого европия в области спектра 0.44-2.5 мкм при 1150 К. Эллипсометрические измерения проводились методом Битти. По экспериментальным результатам рассчитаны дисперсионные зависимости световой проводимости, отражательной способности и функции характеристических потерь энергии электронов. С использованием результатов измерений в инфракрасной области спектра вычислены концентрация электронов проводимости и частота релаксации |
П 53 Получение и структура нанокристаллических тонких пленок сульфидов кадмия и свинца [] / Н. С. Белова, А. А. Урицкая, А. С. Курлов, А. А. Ремпель // Новые неорганические материалы и химическая термодинамика: Второй семинар СО РАН - УрО РАН: Тез. докл. - 2002. - С. 22 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СТРУКТУРА ПЛЕНОК -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- СУЛЬФИД КАДМИЯ -- СУЛЬФИД СВИНЦА -- ХИМИЧЕСКОЕ ОСАЖДЕНИЕ -- ОСАЖДЕНИЕ ХИМИЧЕСКОЕ -- КРИСТАЛЛИТЫ -- МЕТОД НАПРАВЛЕННОГО СИНТЕЗА |
P 80 Poly(vanadiu-molybdenum acid) xerogel thin films fabricated by the sol-gel process and their humidity-sensing properties [] / M. S. Tong, G. R. Dai, Y. D. Wu, X. L. He, W. Yan, D. S. Gao, V. Volkov, G. Zakharova // Journal of Materials Research. - 2000. - V. 15, N 12. - С. 2653-2657. - Библиогр.: 11 назв. Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): V2O5 -- ОКСИД ВАНАДИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- КСЕРОГЕЛИ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ МЕТОД -- СВОЙСТВА ДАТЧИКОВ ВЛАЖНОСТИ -- ТЕРМОГРАВИМЕТРИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- АНАЛИЗ ТЕРМОГРАВИМЕТРИЧЕСКИЙ -- МЕТОД РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ЭЛЕКТРОДЫ -- ГЕЛИ Аннотация: Thermogravimetric analysis, x-ray photoelectron spectroscopy, and x-ray diffraction results and the humidity sensing properties of poly(vanadium-molybdenum acid) H2V9.5Mo2.5O32.0.8.8H(2)O xerogel thin films, which were fabricated by the sol-gel process, are described in this paper. The conductance and the capacitance of the thin films strongly depend on the relative humidity. Different electrodes have different influences on the humidity-sensing properties of the thin films |
Н 84 Носов, А. П. Взаимосвязь магнитных свойств и микроструктуры тонких пленок La0.67Ca0.33MnO3 [] = Interrelation between the Magnetic Properties and Microstructure of Thin La0.67Ca0.33MnO3 Films / А. П. Носов, В. Г. Васильев, Е. В. Владимирова // Физика металлов и металловедение. - 2004. - Т. 98, N 1. - 38-43: ил. - Библиогр.: с. 42-43 (15 назв.) . - ISSN 0015-3230 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): La0.67Ca0.33MnO3 -- LaAlO3 -- LaGaO3 -- SrTiO3 -- MgO -- МАГНИТНЫЕ СВОЙСТВА -- СВОЙСТВА МАГНИТНЫЕ -- СВОЙСТВА ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ -- ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- МАНГАНИТЫ -- МАГНИТОСТРИКЦИОННЫЙ ЭФФЕКТ -- ЭФФЕКТ МАГНИТОСТРИКЦИОННЫЙ -- ТЕРМООБРАБОТКА Аннотация: Приведены результаты экспериментального исследования магнитных и микроструктурных свойств тонких пленок La0.67Ca0.33MnO3 (LCMO) манганитов, выращенных лазерным распылением на монокристаллических подложках из LaAlO3, LaGaO3, SrTiO3 и MgO с ориентацией (100), с последующей термообработкой в кислороде, в том числе при высоком (100 бар) давлении. Проанализировано влияние обратного магнитострикционного эффекта на магнитные свойства пленок. Изучена взаимосвязь температурной зависимости коэрцитивной силы и анизотропных микронапряжений, обусловленных отличиями параметров кристаллических решеток в системе пленка-подложка, и ее изменение после термообработок в кислороде. Результаты интерпретируются в модели слабого пиннинга доменных стенок. Сделаны оценки плотности центров пиннинга. Показано, что только в системе LCMO/MgO из-за большой величины анизотропных микронапряжений имеет место рост степени дефектности пленки с увеличением продолжительности термообработки, что является одной из причин появления электронного фазового разделения и связанных с этим аномалий магнитных и транспортных свойств |
Э 94 Эффекты атомной релаксации и электронное строение (100) и (110) поверхностей ниобия [Текст] / К. И. Шеин, И. Р. Шеин, Н. И. Медведева, Е. В. Шалаева, М. В. Кузнецов, А. Л. Ивановский // Физика металлов и металловедение. - 2006. - Т. 102 , № 6 . - С. 648 - 654 : рис. - Библиогр. : с. 653-654 (19 назв.) . - ISSN 0015 - 32 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АТОМНАЯ РЕЛАКСАЦИЯ -- МЕТОД VASP-PAW -- НИОБИЙ -- УРОВЕНЬ ФЕРМИ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СТРУКТУРА -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ Аннотация: Методом VASP-PAW выполнен сравнительный анализ особенностей атомной релаксации и электронной структуры граней (100) и (110) ниобия. Релаксационные изменения межслоевых расстояний поверхностных слоев имеют осциллирующий характер, но существенно различаются для двух исследованных граней. Если для (100) грани с плотной атомной упаковкой два поверхностных слоя сжаты на 4,3 %, а релаксация оказывается значимой для трех внешних слоев, то для более "рыхлой" (100) грани эти величины составляют 13,1 % и шесть слоев соответственно. Анализ послойного распределения плотностей состояний, карты пространственного распределения зарядовой плотности плотностей состояний на уровне Ферми показывает, что наиболее существенные изменения вблизи уровня Ферми происходят для поверхности (100) |
Т 57 Тонкие пленки на основе фторидов магния и бария [] / А. Ф. Голота, З. К. Хубиева, М. Я. Ходос, А. А. Фотиев // Известия Академии наук СССР. Сер. Неорганические материалы. - 1986. - Т. 22, N 12. - С. 2078-2080 . - ISSN 0002-337X Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ФТОРИДЫ -- ФТОРИД БАРИЯ -- ФТОРИД МАГНИЯ -- БАРИЙ -- МАГНИЙ -- Mg -- Ba |
K 42 Khodos, M. Ya. Thin films of complex transition-element compounds [Text] / M. Ya. Khodos // Materials Science Forum (Materials Science High Technology: MASHTEC'90). - 1990. - Part 2. - P739-740 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ПЕРЕХОДНЫЕ МЕТАЛЛЫ -- МЕТАЛЛЫ ПЕРЕХОДНЫЕ -- СЛОЖНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ -- СОЕДИНЕНИЯ СЛОЖНЫЕ |
Р 39 Рентгеновские эмиссионные и ЭСХА-спектры тонких пленок на основе ZrO2 [] / М. Я. Ходос, В. М. Черкашенко, Н. В. Кривошеев, В. Р. Галахов, С. Н. Немнонов, Э. З. Курмаев, В. А. Губанов // Известия Академии наук СССР. Сер. Неорганические материалы. - 1985. - Т. 21, N 12. - С. 2059-2064 . - ISSN 0002-337X Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЕ ЭМИССИОННЫЕ СПЕКТРЫ -- ZrO2 -- ОКСИД ЦИРКОНИЯ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ |
И 88 Исследование рентгеновских эмиссионных и ЭСХА-спектров тонких пленок на основе TiO2 [] / В. М. Черкашенко, В. В. Шумилов, В. Р. Галахов, М. Я. Ходос, Н. В. Кривошеев, С. Н. Немнонов, Э. З. Курмаев, В. А. Губанов // Известия Академии наук СССР. Сер. Неорганические материалы. - 1987. - Т. 23, N 1. - С. 96-100 . - ISSN 0002-337X Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- TiO2 -- ОКСИД ТИТАНА -- РЕНТГЕНОВСКИЕ ЭМИССИОННЫЕ СПЕКТРЫ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ |
И 88 Исследование тонких пленок, полученных испарением в вакууме ортованадатов редкоземельных элементов [] / М. Я. Ходос, Н. В. Кривошеев, В. А. Губанов, О. Г. Алексеев, С. Н. Немнонов // Влияние нестехиометрии на свойства соединений переходных металлов. - 1986. - С. 35-47 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ВАКУУМ -- ИСПАРЕНИЕ -- ОРТОВАНАДАТЫ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ -- РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- РЗЭ -- ЭЛЕМЕНТЫ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ |
Х 69 Ходос, М. Я. Тонкие пленки сложных оксидов переходных металлов: состав, дефектность, свойства [] / М. Я. Ходос // Химия твердого тела: Междунар. конф. (Одесса, 16-20 окт. 1990 г.): Тез. докл. - 1990. - Ч. 2. - С. 129 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ОКСИДЫ СЛОЖНЫЕ -- СЛОЖНЫЕ ОКСИДЫ -- ОКСИДЫ ПЕРЕХОДНЫХ МЕТАЛЛОВ -- СОСТАВ МЕТАЛЛОВ -- ДЕФЕКТНОСТЬ МЕТАЛЛОВ -- СВОЙСТВА МЕТАЛЛОВ |
Т 57 Тонкие пленки, полученные вакуумным испарением оксидных ванадиевых соединений [] / М. Я. Ходос, Н. В. Кривошеев, О. Г. Алексеев, Н. Н. Заплешко // Химия, технология и применение ванадиевых соединений: 4-е Всесоюз. совещ. (Нижний Тагил, 15-18 июня 1982 г.): Тез. докл. - 1982. - Ч. 2. - С. 62 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ВАКУУМНОЕ ИСПАРЕНИЕ -- ИСПАРЕНИЕ ВАКУУМНОЕ -- ОКСИДНЫЕ ВАНАДИЕВЫЕ СОЕДИНЕНИЯ |
К 89 Кузнецов, М. В. Изучение электронной структуры тонких пленок TiNx, полученных методом "КИБ" [] / М. В. Кузнецов, Ю. Ф. Журавлев, В. А. Губанов // Поверхность и новые материалы: 2-я Урал. конф. (Ижевск, 15-17 нояб. 1988 г.): Тез. докл. - 1988. - С. 85 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- СТРУКТУРА ЭЛЕКТРОННАЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СТРУКТУРА -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- TiN -- НИТРИД ТИТАНА |
Л 84 Лукин, Н. В. Возможность использования рентгенографических методов для исследования тонких пленок и поверхностных слоев поликристаллических образцов [] / Н. В. Лукин, С. И. Алямовский // Поверхность и новые материалы: 1-я Урал. конф. (27-29 нояб. 1984 г.): Тез. науч. сообщ. - 1984. - Т. 1. - С. 197 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- МЕТОД РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СЛОИ -- СЛОИ ПОВЕРХНОСТНЫЕ -- ПОЛИКРИСТАЛЛЫ |
Л 84 Лукин, Н. В. Возможность использования рентгенографических методов для исследования тонких пленок и поверхностных слоев поликристаллических образцов [] / Н. В. Лукин // Влияние нестехиометрии на свойства соединений переходных металлов. - 1986. - С. 19-25 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- МЕТОД РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ -- РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СЛОИ -- СЛОИ ПОВЕРХНОСТНЫЕ -- ПОЛИКРИСТАЛЛЫ |
Б 17 Базуев, Г. В. Химия летучих бета-декетонатов и их использование при синтезе тонких высокотемпературных сверхпроводящих пленок [] / Г. В. Базуев, Л. Д. Курбатова // Успехи химии. - 1993. - Т. 62, N 10. - С. 1037-1046 . - ISSN 0042-1308 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- БЕТА-ДИКЕТОНАТЫ МЕТАЛЛОВ -- СИНТЕЗ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЕ СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ ПЛЕНКИ |
Т 57 Тонкопленочный ферромагнитный композит для спинтроники [Текст] / А. С. Борухович, Н. И. Игнатьева, А. И. Галяс, С. С. Дорофейчик, К. И. Янушкевич // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2006. - Т. 84 , № 9 - 10 . - С. 592 - 595 : рис. - Библиогр.: с .595 (11 назв. ) . - ISSN 0370 - 27 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ФЕРРОМАГНИТНЫЕ КОМПОЗИТЫ -- СПИНТРОНИКА -- EuO -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ Аннотация: Приводятся результаты изучения магнитных и других параметров тонкопленочных композитов EuO:Fe, реально отвечающих требованиям их применения в качестве инжекторов спинов в создаваемых структурах полупроводниковой спиновой электроники, способных работать в нормальных условиях комнатных температур |
И 88 Исследование нанокристаллических пленок сульфида кадмия методом скользящего рентгеновского пучка [Текст] = A Study of Cadmium Sulfide Nanocrystalline Films by Grazing Incidence X-Ray Diffraction / Н. С. Кожевникова, А. А. Ремпель, Ф Хегерт, А. Магерль // Журнал физической химии. - 2007. - Т. 81, № 5. - С. 887-892 : рис., табл. - Библиогр.: с. 892 (18 назв.) . - ISSN 0044-4537 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ -- СУЛЬФИД КАДМИЯ -- МЕТОД СКОЛЬЗЯЩЕГО РЕНТГЕНОВСКОГО ПУЧКА -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ Аннотация: Тонкие пленки сульфида кадмия получены на подложках из монокристаллического кремния химическим осаждением из водных растворов. Методом скользящего рентгеновского пучка показано, что пленки сульфида кадмия образованы нанокристаллическими частицами; ~ 80 % всех чатиц имеют размер 5+или- 1 нм, некоторые частицы имеют структуру вюрцита, а некоторые - сфалерита. Сделан вывод, что присутствие в пленках кубической фазы свидетельсьвует о неравновесном состоянии нанокристаллических пленок. Показано, что после 30 мин. от начала химической реакции образования сульфида кадмия размер формирующих пленки частиц и их кристаллическая структура не зависят от времени осаждения, увеличивается лишь толщина пленки. Кроме того, показано, что начальный этап образования пленки сульфида кадмия сопровождается осаждением гидроксида кадмия Cd(OH)2 |
Z 19 Zakharova, G. S. Synthesis and Properties of the Mixed Hydrated Oxides V2-yWyO5+delta·nH2O [Текст] / G. S. Zakharova, V. L. Volkov // Journal of Sol-Gel Science and Technology. - 2005. - Vol. 34, № 3. - С. 293-298. - Библиогр. : с. 298 (18 назв.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ОКСИД ВОЛЬФРАМА -- ОКСИД ВАНАДИЯ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ МЕТОД -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ФОТОЭЛЕКТРОННЫЕ СПЕКТРЫ -- ПРОВОДИМОСТЬ Аннотация: Compounds of the general formula V2−yWyO5+δ ·nH2O (0 < y ≤ 0.25) with the layered structure of polyvanadic acid V2O5·nH2O (H2V12O31−δ ·nH2O) have been prepared from peroxide solutions using the sol–gel process. The samples contain up to 5–8 wt% vanadium (IV). The water content changes within the range of 0.7 ≤ n ≤ 1.5 in depending on tungsten concentration. The V2−yWyO5+δ ·nH2O (y ≤ 0.125) form the thin films described an interlayer distance of 11.60 ± 0.05 A° . The thermal properties, IR, and X-ray photoelectron spectra of the compounds synthesized have been studied. The thermal stability of the phases increases with the rising of tungsten content. The dehydration finishes with the forming solid solution V2−yWyO5 and WO3. The electrical conductivity of V2−yWyO5+δ ·nH2O (0 < y ≤ 0.25) powders was measured between 293 and 473 K at a relative humidity of 12%. The activation energy of conduction is independent upon theWcontent and equals 0.22–0.24 eV. Partial substitution of vanadium for tungsten was found to reduce the conductivity of the phases. The conductivity of the films increases with the increasing of relative air humidity and is governed by proton diffusion across the V O W layers Полный текст |