Пат. 2456229 Российская Федерация, МПК B82B 3/00. Малков, В. Б. Способ диагностики эффекта изменения знака вектора разориентировки вдоль межблочных границ в нанотонких кристаллах / В. Б. Малков, А. В. Малков, В. Г. Пушин, В. Н. Стрекаловский, О. В. Малков ; РАН, УрО, г. Екатеринбург, Институт высокотемпературной электрохимии. - № 2010146343/28 ; Заявл. 13.11.2010 ; Опубл. 20.07.2012, М.> // Изобретения. Полезные модели. - 2012. - №20 Рубрики: ЭЛЕКТРОХИМИЯ |
Заявка 2010146343 Российская Федерация, МПК B82B3/00. Малков, В. Б. Способ диагностики эффекта изменения знака вектора разориентировки вдоль межблочных границ в нанотонких кристаллах / В. Б. Малков, А. В. Малков, В. Г. Пушин, В. Н. Стрекаловский, О. В. Малков ; РАН, УрО, г. Екатеринбург, Институт высокотемпературной электрохимии. - № 2010146343/28 ; Заявл. 13.11.2010 ; Опубл. 20.05.2012, М.> // Изобретения. Полезные модели. - 2012. - № 14 |
Заявка 2013126822 Российская Федерация, МПК G01N23/00, B82B1/00. Способ диагностики реальной структуры кристаллов / В. Б. Малков, И. В. Николаенко, Г. П. Швейкин, А. В. Малков, В. Г. Пушин, О. В. Малков, Б. В. Шульгин ; РАН, УрО, г. Екатеринбург, Институт химии твердого тела. - № 2013126822/28 ; Заявл. 11.06.2013 ; Опубл. 20.12.2014> // Изобретения. Полезные модели. - 2014. - № 35 |