Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 86
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 197853 - кх. В34 П 16
Пантелеев, В. Г. Компьютерная микроскопия / В. Г. Пантелеев, О. Егорова, Е. Клыкова. - Москва : Техносфера, 2005. - 303 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 302-303. - ISBN 5-94836-025-3 : 375.00 р.ББК В344.1с51 РУБ В34 Рубрики: ФИЗИКА--ОПТИКА
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
2. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 197854 - кх. 538 Н 40
Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике / В. К. Неволин. - Москва : Техносфера, 2005. - 147, [1] с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 : 305.00 р.ББК 538.648 + 648.441 РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
3. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 196584 - кх. 541.1 П 88
Пул, Ч. Нанотехнологии : учеб. пособие по спец. "Нанотехнологии" / Ч. Пул, Ф. Оуэнс ; ред. пер.; авт. предисл. Ю. И. Головин. - Москва : Техносфера, 2004. - 327 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Загл. на доп.тит.листе : Introduction to Nanotechnology. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-021-0 : 188.10 р. Пер. изд.: Introduction to Nanotechnology / C. P. Pool, F. J. Owens. S. l., 2003. - Прил. : с. 311-327ББК 541.171я7 + 539.2я7 РУБ 541.1 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--УЧЕБНИКИ ФИЗИКА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
4. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 196595 - кх. Ж3 Б 87
Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие по спец. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер.; авт. предисл. С. Л. Баженов, т. доп. О. В. Егорова. - Москва : Техносфера, 2004. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Загл. на доп.тит.листе : Microstructural Characterization of Materials. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 181.50 р. Пер. изд.: Microstructural Characterization of Materials / D. Brandon, D. Kaplan. New York, 1999. - Прил.: с. 363-366ББК Ж3я7 + 539.212я7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛЫ--УЧЕБНИКИ ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
5. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 195818 - кх; 195819 - кх. 538 А 22
Автоионная и автоэлектронная микроскопия и спектроскопия: история, достижения, современное состояние, перспективы : Труды Российского семинара, г. Москва, 21-23 мая 2002 г. / Ред. А. Л. Суворов. - Москва : Академпринт, 2003. - 400 с. : фотоил., табл. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 5-87911-103-2 : 200.00 р.ББК 538.648я431(2) + В344я431(2) РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ--ОПТИКА--КОНФЕРЕНЦИИ
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
6. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 193449 - кх. 538 Р 76
Российская конференция по электронной микроскопии (ЭМ'2002) (19 ; 2002 ; [Черноголовка]). XIX Российская конференция по электронной микроскопии ЭМ'2002 : Тез. докл., 28 мая-31 мая 2002 г. / РАН. Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов и др. - Черноголовка : [б. и.], 2002. - 286 с., 2 л. вкл. ил. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 279-285. - 30.00 р.ББК 538.648я431(2) + 541.1с341.2я431(2) РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ--КОНФЕРЕНЦИИ ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
7. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 194296 - кх. К2 Г 68
Горелик, Семен Самуилович. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : учеб. пособие для вузов по спец. "Металлургия", "Физическое материаловедение" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 4-е изд., перераб. и доп. - Москва : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил., табл. - Прил.: с. 257-356.- Библиогр.: с. 357-358. - ISBN 5-87623-096-0 : 135.00 р.ББК К204.013.8я73 + К204.011.1я73 Рубрики: ТЕХНОЛОГИЯ МЕТАЛЛОВ. МАШИНОСТРОЕНИЕ. ПРИБОРОСТРОЕНИЕ--МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
8. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 196744 - кх. К66 К 56
Ковенский, Илья Моисеевич. Испытания гальванических покрытий : справочное изд. / И. М. Ковенский, В. В. Поветкин. - Москва : Интермет Инжиниринг, 2001. - 135 с. : ил., табл. - (Специалист-материаловед). - Библиогр.: с. 134-135. - ISBN 5-89594-061-7 : 278.00 р.ББК К663.054.1я22 Рубрики: ТЕХНОЛОГИЯ МЕТАЛЛОВ. МАШИНОСТРОЕНИЕ. ПРИБОРОСТРОЕНИЕ--ОТДЕЛЬНЫЕ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЕ И МЕТАЛЛООБРАБАТЫВАЮЩИЕ ПРОЦЕССЫ И ПРОИЗВОДСТВА--СПРАВОЧНИКИ
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
9. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: И-11988 - ч/з; И-11750 - кх. В34 F 96
Fultz, Brent. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials / B. Fultz, J. M. Howe. - 2nd Ed. - Berlin [et al.] : Springer, 2002. - XXI, 748 с. : ил. - (Physics and Astronomy Online Library). - Указ.: с. 734-748. - ISBN 3-540-43764-9 : 2743.00 р.ББК В341.241 + 538.648 Рубрики: ФИЗИКА--ОПТИКА--МАГНЕТИЗМ
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
10. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 185877 - бф. 016.9:538 С 42
Сканирующая зондовая микроскопия. Библиография (1982-1997) : библиогр. список науч. публикаций / сост. И. В. Яминский, сост. В. Г. Еленский. - Москва : Научный мир, 1997. - 318 с. - (Сканирующая зондовая микроскопия ; вып. 2). - ISBN 5-89176-031-2 : 20.00 р.ББК 016.9:538.648 + 538.648я1 РУБ 016.9:538 Рубрики: ЛИТЕРАТУРА УНИВЕРСАЛЬНОГО СОДЕРЖАНИЯ--БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЕ ПОСОБИЯ, 1982-1997--УКАЗАТЕЛИ БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЕ ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ
Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА Найти похожие
|
|
|