Поисковый запрос: (<.>K=ЗАВИСИМОСТИ ТЕМПЕРАТУРНЫЕ<.>) |
Общее количество найденных документов : 150
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Conductivity, thermal measurements, and phase diagram of the Na2S2O7-NaHSO4 system/G. Hatem [et al.] // The Journal of Physical Chemistry B, 1999. т.V. 103,N N 6.-С.1027-1030
|
2.
| Аракелян В. С. Теплопроводность щелочных металлов как функция их атомных номеров и температуры/В. С. Аракелян // Доклады Академии наук, 1999. т.Т. 369,N N 6.-С.784-789
|
3.
| Глазов В. М. О структурной неоднородности расплавов квазибинарных систем, образованнных халькогенидами меди/В. М. Глазов // Журнал физической химии, 2000. т.Т. 74,N N 4
|
4.
| Шорников С. И. Масс-спектрометрическое определение термодинамических свойств расплавов системы Al2O3-SiO2/С. И. Шорников, И. Ю. Арчаков // Журнал физической химии, 2000. т.Т. 74,N N 5
|
5.
| Исследование процесса испарения расплавов Cu-Ni-S методом высокотемпературной масс-спектрометрии/А. Н. Голов [и др.] // Журнал прикладной химии, 2000. т.Т. 73,N N 12.-С.1936-1940: табл., граф.
|
6.
| Колосов В. Н. Защита от коррозии аппаратуры из никеля в хлорид-фторотанталатных расплавах/В. Н. Колосов, Э. С. Матыченко, А. Т. Беляевский // Защита металлов, 2000. т.Т. 36,N N 6.-С.596-601: табл., граф., фот.
|
7.
| Чеховской В. Я. Установка для измерения плотности и поверхностного натяжения расплавов/В. Я. Чеховской // Приборы и техника эксперимента, 2000,N N 3.-С.139-142: схем., граф.
|
8.
| Куликов А. И. Новая нетоксичная ванна для низкотемпературной нитроцементации металлов и сплавов/А. И. Куликов // Металловедение и термическая обработка металлов, 2001,N N 1.-С.20-21: табл., граф.
|
9.
| Бурылев Б. П. Измерение давления насыщенного пара в системе хлорид диспрозия (3)-хлорид кобальта при разных температурах/Б. П. Бурылев, Л. П. Мойсов // Радиохимия, 1998. т.Т. 40,N N 3.-С.226-229
|
10.
| Проблема спектрофотометрии стеклообразующих расплавов: 2. Метод измерения спектров поглощения стекол и расплавов в красной и ближней ИК областях при температурном интервале 20-1500 С/О. А. Прохоренко [и др.] // Физика и химия стекла, 2000. т.Т. 26,N N 2.-С.270-286
|
|
|