Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (21)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (1)Расплавы (28)Каталог библиотеки ИГД УрО РАН (2)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (12)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Соловьев, В. $<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/О-75
Автор(ы) : Усейнов С. С., Соловьев В. В., Гоголинский К. В., Львова Н. А., Кулибаба В. Ф., Петржик М. И.
Заглавие : Особенности применения метода наноиндентирования для измерения твердости на наномасштабе
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 1. - С. 111-115: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 115 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): модуль юнга--наноиндектор
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Алексеева Н. О., Вейсман В. Л., Лукин А. Е., Марков В. Н., Панькова С. В., Соловьев В. Г., Ткаль В. А., Яников М. В.
Заглавие : Исследование нанокомпозитов на основе опалов с помощью комплекса нанотехнологического оборудования "Умка"
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 4. - С. 9-11: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 11 (21 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 74
Автор(ы) : Теплова Т. Б., Гридин О. М., Соловьев В. В., Ашкинази Е. Е., Ральченко В. Г.
Заглавие : Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 23 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материалы кристаллические твердые--обработка поверхностная квазипластичная--микроэлектроника
Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 60
Автор(ы) : Соловьев В. В.
Заглавие : Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 14 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 41
Автор(ы) : Трифонов С. В., Ванин А. И., Вейсман В. Л., Ганго С. Е., Кондратьева М. Н., Соловьев В. Г.
Заглавие : Экспериментальное исследование электрофизических свойств микрообразцов нанокомпозитов I/AFI
Место публикации : Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 78-82: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 82 (18 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Цеолиты и цеолитоподобные материалы представляют собой хорошо известные кристаллические диэлектрики, которые можно использовать в качестве регулярных пористых матриц для создания широкого круга нанокомпозитов, получаемых в результате введения вещества - «гостя» в систему полостей и каналов матрицы. В настоящей работе монокристаллы цеолитоподобныго алюмофосфата типа AFI были синтезированы гидротермальным способом. В результате заполнения одномерных параллельных наноканалов матрицы AFI йодом методом адсорбции из газовой фазы были получены нанокомпозиты I/AFI. Электрические свойства 100-микронных образцов I/AFI исследовались на постоянном токе с использованием прижимных индиевых контактов. Термоэлектрические свойства микрообразцов I/AFI изучались импульсным методом с использованием электродов вольфрам - золото. В работе обсуждаются вольт-амперные характеристики, температурные зависимости электропроводности, а также термоэлектрические свойства исследованных образцов. Результаты электрических измерений подтверждают наличие фазового перехода в системе наночастиц йода (от цепочек к молекулярному йоду) при температуре T = 343 К
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 41
Автор(ы) : Алексеева Н. О., Вейсман В. Л., Лукин А. Е., Панькова С. В., Соловьев В. Г., Яников М. В.
Заглавие : Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 23-26: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 26 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): опалы--микроскопия сканирующая зондовая (сзм)--спектроскопия брэгговского отражения --пленки профилированные тонкие металлические
Аннотация: Методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и спектроскопии брэгговского отражения исследованы образцы синтетических опалов, на поверхность которых наносились в вакууме тонкие слои металлов. Значения диаметров сфер образцов опалов, полученные как на основе СЗМ-изображений их металлизированной и не покрытой металлом поверхности, так и расчетным путем из спектров брэгговского отражения, соответствовали друг другу в пределах ошибок измерения. Таким образом, наружная поверхность тонкого слоя металла, покрывающего образец опала, сохраняет форму и пространственную периодичность, характерную для границы раздела между опалом и слоем металла
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 99
Автор(ы) : Пятов А. Л., Соловьев В. В., Судачкова Н. В.
Заглавие : Метрологическое обеспечение и стандартизация в области научных исследований сверхтвердых и новых углеродных материалов
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 98-99. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--наноматериалы--углерод--материалы сверхтвердые
Аннотация: В статье рассматривается метрологическое обеспечение и стандартизация научных исследований сверхтвердых и новых углеродных материалов. Описаны наиболее перспективные направления развития нанотехнологий и наноматериалов. Рассмотрены основные задачи и функции, возложенные на ФГБНУ ТИСНУМ как головную организацию отрасли по направлению «Конструкционные наноматериалы», а также основные проблемы метрологического обеспечения научных исследований в центрах коллективного пользования
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика