Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Расплавы (26)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Соловьев, В. В.$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники /Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.17-23
2.

Особенности применения метода наноиндентирования для измерения твердости на наномасштабе/С. С. Усейнов [и др.] // Нанотехника, 2008. т.№ 1.-С.111-115
3.

Пятов А. Л. Метрологическое обеспечение и стандартизация в области научных исследований сверхтвердых и новых углеродных материалов /А. Л. Пятов, В. В. Соловьев, Н. В. Судачкова // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т.8,N № 5-6.-С.98-99
4.

Соловьев В. В. Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности /В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№12.-С.10-14
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика