Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Инвентарный номер: 199155 - кх; 199516 - кх.
   539.2
   В 24


    Введение в физику поверхности [] : научное издание / К. Оура [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко] ; [РАН, СО, Ин-т автоматики и процессов управления]. - М. : Наука, 2006. - 490 с. : ил. - Библиогр.: с. 465-481. - Предм. указ.: с. 482-490. - Пер. изд. : Surface Scinece. An Introduction / K. Oura. - Berlin, 2003. - ISBN 5-02-034355-2 : 264.00 р., 99.00 р.

ГРНТИ

29.19

31.15.17

ББК 539.212.5
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА ПОВЕРХНОСТЕЙ -- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ (ФИЗИКА) -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (ФИЗИКА) -- СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ (ФИЗИКА) -- АДСОРБЦИЯ (ПОВЕРХНОСТЬ ТВЕРДОГО ТЕЛА) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (СТРУКТУРА) -- ДИФРАКЦИЯ (ФИЗИКА)

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   В 40


    Взаимодействие электронного пучка с полем кристаллической решетки и представления волновой оптики / Т. А. Гришина [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 14-20. - Библиогр. : с. 20 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ОПТИКА ВОЛНОВАЯ -- ДИФРАКЦИЯ -- ВОЛНА ЭЛЕКТРОННАЯ -- РЕШЕТКА КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ
Аннотация: Проанализирована возможность использования представлений волновой оптики для описания закономерностей взаимодействия электронов с кристаллической решеткой электронно-микроскопического объекта

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   И 88


    Исследование продуктов золь-гель-процессов в многокомпонентных оксидных системах, протекающих с образованием магнитных нанокомпозитов / К. Г. Гареев, И. Е. Грачева, Н. Е. Казанцева, В. В. Лучинин, В. А. Мошников, А. А. Петров // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 5-10 : рис., табл. - Библиогр.: с. 10 (26 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛ НАНОКОМПОЗИТНЫЙ -- ФЕРРИТ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ -- ДИФРАКЦИЯ БЫСТРЫХ ЭЛЕКТРОНОВ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МАГНИТОМЕТРИЯ ВИБРАЦИОННАЯ
Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии, электронной дифракции, Оже-спектроскопии и вибрационной магнитометрии исследованы продукты золь-гель-процессов, протекающих с образованием магнитных нано-композитов на основе простых и сложных ферритов со структурой типа шпинель

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Ф 34

    Федотов, В. Г.
    Формирование спектров отражения и пропускания света тонкими трехмерными фотонно-кристаллическими пленками в режиме многоволновой дифракции / В. Г. Федотов, А. В. Селькин // Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 9-10. - С. 65-70 : рис. - Библиогр.: с. 70 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- РЕЖИМ МНОГОВОЛНОВОЙ ДИФРАКЦИИ -- СПЕКТРЫ ОТРАЖЕНИЯ -- КРИСТАЛЛЫ ФОТОННЫЕ -- РАСЧЕТ СПЕКТРОВ -- ПОЛОСЫ ЭКСТИНКЦИИ
Аннотация: Исследованы спектры отражения и пропускания света тонкими пленками трехмерных опалоподобных фотонных кристаллов. С использованием аналитической теории динамической дифракции света, обобщенной на случай пространственно-периодической среды с высоким диэлектрическим контрастом, выполнен численный расчет спектров. Рассмотрены кинематические условия дифракции света на системе латеральных (111) и наклонных (11-1) кристаллических плоскостей с учетом границ раздела пленки. Установлено, что дифракция на наклонных плоскостях формирует дополнительные полосы экстинкции, не совпадающие по спектральному положению с пиками брэгговского отражения для соответствующих наклонных плоскостей

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   П 91

    Пушин, В. Г.
    Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии / В. Г. Пушин // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104 : рис., табл. - Библиогр.: с. 104 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОДИАГНОСТИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРНЫЕ И НАНОФАЗНЫЕ -- ПОГРЕШНОСТЬ -- МИКРОСКОП -- МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ -- НАНОМАТЕРИАЛ -- ДИФРАКЦИЯ
Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Р 25

    Раткин, Л. С.
    К юбилею национального исследовательского центра "Курчатовский институт": новые разработки в сфере нанои микросистемной техники / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 2. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

623.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК -- НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР -- КУРЧАТОВСКИЙ ИНСТИТУТ -- МГУ ИМ. М. В. ЛОМОНОСОВА -- ИНСТИТУТ КРИСТАЛЛОГРАФИИ ИМ. А. В. ШИУБНИКОВА ран -- РАМН -- НАНОЧАСТИЦЫ -- НАНОКОМПОЗИТЫ -- НАНОСИСТЕМЫ -- НАНОМАСШТАБ -- ДИФРАКЦИЯ
Аннотация: В год семидесятилетия Национального исследовательского центра (НИЦ) "Курчатовский институт" под патронажем Российской академии наук был проведен цикл конференций, на которых рассматривались перспективные разработки, в том числе в сфере нано- и микросистемной техники. Особое внимание уделялось исследованиям, проведенным в МГУ им. М. В. Ломоносова, институтах РАН, в частности, в Институте кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, и институтах Российской академии медицинских наук (РАМН)

Найти похожие

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)