Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (77)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (14)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (12)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (1)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (62)Расплавы (5)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ДИФРАКЦИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/В 24
Автор(ы) : Оура, Кендзиро, Лифшиц, Виктор Григорьевич, Саранин, Александр Александрович, Зотов, Андрей Вадимович, Катаяма, Митсухиро
Заглавие : Введение в физику поверхности : научное издание
Выходные данные : М.: Наука, 2006
Колич.характеристики :490 с.: ил.
Коллективы : Ин-т автоматики и процессов управления ДО РАН
Перевод издания: Oura K. Surface Scinece. An Introduction. -Berlin, 2003
Примечания : Библиогр.: с. 465-481. - Предм. указ.: с. 482-490
ISBN, Цена 5-02-034355-2: 264.00, 99.00, р.
ГРНТИ : 29.19 + 31.15.17
ББК : 539.212.5
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика поверхностей--кристаллография (физика)--пленки тонкие (физика)--поверхности (физика)--спектроскопия электронная (физика)--адсорбция (поверхность твердого тела)--наноструктуры (физика)--поверхности (структура)--дифракция (физика)
Экземпляры : всего : кх(2)
Свободны : кх(2)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 40
Автор(ы) : Гришина Т. А., Мельников А. А., Гришина В. Ю., Трошин Б. В.
Заглавие : Взаимодействие электронного пучка с полем кристаллической решетки и представления волновой оптики
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 14-20. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 20 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Проанализирована возможность использования представлений волновой оптики для описания закономерностей взаимодействия электронов с кристаллической решеткой электронно-микроскопического объекта
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Гареев К. Г., Грачева И. Е., Казанцева Н. Е., Лучинин В. В., Мошников В. А., Петров А. А.
Заглавие : Исследование продуктов золь-гель-процессов в многокомпонентных оксидных системах, протекающих с образованием магнитных нанокомпозитов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 5-10: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 10 (26 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материал нанокомпозитный--феррит--золь-гель--дифракция быстрых электронов--микроскопия атомно-силовая--магнитометрия вибрационная
Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии, электронной дифракции, Оже-спектроскопии и вибрационной магнитометрии исследованы продукты золь-гель-процессов, протекающих с образованием магнитных нано-композитов на основе простых и сложных ферритов со структурой типа шпинель
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ф 34
Автор(ы) : Федотов В. Г., Селькин А. В.
Заглавие : Формирование спектров отражения и пропускания света тонкими трехмерными фотонно-кристаллическими пленками в режиме многоволновой дифракции
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 9-10. - С. 65-70: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 70 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки тонкие--режим многоволновой дифракции--спектры отражения--кристаллы фотонные--расчет спектров--полосы экстинкции
Аннотация: Исследованы спектры отражения и пропускания света тонкими пленками трехмерных опалоподобных фотонных кристаллов. С использованием аналитической теории динамической дифракции света, обобщенной на случай пространственно-периодической среды с высоким диэлектрическим контрастом, выполнен численный расчет спектров. Рассмотрены кинематические условия дифракции света на системе латеральных (111) и наклонных (11-1) кристаллических плоскостей с учетом границ раздела пленки. Установлено, что дифракция на наклонных плоскостях формирует дополнительные полосы экстинкции, не совпадающие по спектральному положению с пиками брэгговского отражения для соответствующих наклонных плоскостей
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 91
Автор(ы) : Пушин В. Г.
Заглавие : Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 104 (16 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанодиагностика--нанотехнологии--микроскопия--материалы наноструктурные и нанофазные--погрешность--микроскоп--методы электронной дифракции --наноматериал --дифракция
Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.3/Р 25
Автор(ы) : Раткин Л. С.
Заглавие : К юбилею национального исследовательского центра "Курчатовский институт": новые разработки в сфере нанои микросистемной техники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 2. - С. 3-6. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 6 (2 назв.)
УДК : 623.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): российская академия наук--национальный исследовательский центр--курчатовский институт--мгу им. м. в. ломоносова--институт кристаллографии им. а. в. шиубникова ран--рамн--наночастицы--нанокомпозиты--наносистемы--наномасштаб--дифракция
Аннотация: В год семидесятилетия Национального исследовательского центра (НИЦ) "Курчатовский институт" под патронажем Российской академии наук был проведен цикл конференций, на которых рассматривались перспективные разработки, в том числе в сфере нано- и микросистемной техники. Особое внимание уделялось исследованиям, проведенным в МГУ им. М. В. Ломоносова, институтах РАН, в частности, в Институте кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, и институтах Российской академии медицинских наук (РАМН)
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика