Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (136)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (1)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (45)Публикации об УрО РАН (4)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (3)История Урала (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (24)Труды Института истории и археологии УрО РАН (60)Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН (8)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (2)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (14)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (3)Расплавы (15)Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН (1)Публикации Черешнева В.А. (10)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИГД УрО РАН (3)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (15)Библиометрия (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЕ<.>)
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 16
1.

Белозубов Е.М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.33-36
2.

Кислев Г. Измерение силовых напряжений в тонких пленках на основе микрокантилеверных преобразователей/Г. Кислев, И. Яминский // Наноиндустрия, 2008. т.№ 5.-С.28-30
3.

Флеш-память входит в третье измерение // Нанотехнологии: наука и производство, 2008. т.№ 3.-С.49
4.

Усанов Д. А. Применение полупроводникового лазерного автодина с модуляцией длины волны излучения для определения расстояния до объекта/Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль , К. С. Авдеев // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.43-47
5.

Терехов А. И. Измерение и анализ развития нанотехнологии/А. И. Терехов // Нанотехника, 2010,N № 2.-С.3-13
6.

Егоров В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах /В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.51-54
7.

Егоров Г. П. Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ /Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.74-78
8.

Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
9.

Батурин А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе /А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 1.-С.2-7
10.

Прецизионное измерение наноразмерных высот J-агрегатов с помощью атомно-силовой микроскопии /В. В. Прохоров [и др.] // Российские нанотехнологии, 2011. т.Т. 6,N № 5-6.-С.52-59
11.

Каплун Л. И. Измерение вязкости железистых расплавов/Л. И. Каплун, Е. Л. Муравьева, В. А. Бочегов // Физ.-хим. исслед. металлург. процессов. -Свердловск, 1985. т.№ 13.-С.136-141
12.

Нановзвешивание и наномера /А. С. Ерофеев [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 2.-С.13-17
13.

Определение амплитуды нановибраций с помощью полупроводникового лазерного автодина с учетом внешней оптической обратной связи /А. Д. Усанов, А. В. Скрипаль , Е. О. Кащавцев, М. Ю. Калинкин // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 9.-С.43-49
14.

Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ /А. К. Гатин, М. В. Гришин, А. А. Кирсанкин, М. А. Кожушнер, В. С. Посвянский, В. А. Харитонов, Б. Р. Шуб // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 9-10.-С.51-60
15.

Ву Ш. Сканирующая микроволновая микроскопия: уникальный метод измерений в нанодиапазоне/Ш. Ву // Наноиндустрия, 2014. т.№ 3(49).-С.34-39
16.

Терехов А. И. Количественное измерение параметров научного сотрудничества: анализ публикаций по теме углеродных наноструктур/А. И. Терехов // Нанотехнологии. Наука и производство, 2014. т.№ 1 (28)
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика