Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Г 31
Автор(ы) : Гелевер В.
Заглавие : Просвечивающий рентгеновский микроскоп наноразрешения
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 20-24: фото, рис. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): защитная камера--рентгеновское излучение
Аннотация: Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется из-за низкого разрешения. Разработка ООО"ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 42
Заглавие : Сканируя нанопрстранство... Революционная премьера от CARL ZEISS!
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 26-28: фото. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскоп--конфокальная микроскопия
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 92
Автор(ы) : Мухин Д., Яминский И.
Заглавие : Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35: рис., табл. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр.: с. 35 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующий микроскоп--центр масс
Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 14
Автор(ы) : Багров Д., Яминский И.
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия деформаций полимерных материалов
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 5. - С. 32-36: рис. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр.: с. 36 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): деформация твердых тел--атомно-силовой микроскоп
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 69
Автор(ы) : Сошников А. И.
Заглавие : Исследование и модифицирование полупроводниковых структур алмазными токопроводящими зондами
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 3. - С. 72-76: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 76 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Алексеева Н. О., Вейсман В. Л., Лукин А. Е., Марков В. Н., Панькова С. В., Соловьев В. Г., Ткаль В. А., Яников М. В.
Заглавие : Исследование нанокомпозитов на основе опалов с помощью комплекса нанотехнологического оборудования "Умка"
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 4. - С. 9-11: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 11 (21 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Б 95
Автор(ы) : Быков В. А., Васильев В. Н., Голубок А. О.
Заглавие : Учебно-исследовательская мини-лаборатория по нанотехнологии на базе сканирующего зондового микроскопа "НАНОЭДЬЮКАТОР"
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 5-6. - С. 51-58. - ISSN 1195-078. - ISSN 1195-078
Примечания : Библиогр. : с. 58 (21 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии (исследования)--зондовый микроскоп--пьезосканер
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/О-62
Автор(ы) : Фролов В. Д., Герасименко В. А., Кононеко В. В., Пименов С. М., Хомич А. В., Ковалев В. И., Кирпиленко Г. Г., Шелухин Е. Ю.
Заглавие : Оптические свойства наноструктурированных пленок a-C:H:Si
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 5-6. - С. 138-143: рис. - ISSN 1195-078. - ISSN 1195-078
Примечания : Библиогр. : с. 143 (25 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктурированные пленки--зондовый микроскоп--кластерная структура
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/П 54
Автор(ы) : Поляков В. В.
Заглавие : Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 6-10: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 10 (10 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Н 25
Автор(ы) : Аракелян С. М., Коростелев В. Ф., Кутровская С. В., Кучерик А. О., Кирилина А. Н.
Заглавие : Наноиндентирование углеродных нанотрубок, пропитанных расплавом алюминия под давлением
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 9. - С. 2-4: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 4 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): методика резонансных автоколебаний--опрессовка изостатическая в расплаве--свойства поверхности
Аннотация: В описываемой работе процесс компактирования осуществлен путем пропитки капсулы, наполненной УНТ, в расплаве алюминия при температуре 850 °C под давлением 400 МПа. Для исследования свойств методом наноиндентирования использовали сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) Солвер НЕКСТ, производства NT-MDT, Зеленоград, Москва. Приведены результаты измерений, сравнение которых с литературными данными дает важную информацию для синтеза новых материалов
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 27
Автор(ы) : Карташев В. А., Карташев В. В.
Заглавие : Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 10 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): форма острия иглы--микроскоп туннельный--микроскопия зондовая
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ф 79
Автор(ы) : Гришин М. В., Ковалевский С. А., Далидчик Ф. И., Гатин А. К.
Заглавие : Формирование суперкластеров нанооксидов титана под острием сканирующего туннельного микроскопа
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 51-53: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 53 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскоп туннельный сканирующий--суперкластеры оксидные--литография зондовая
Аннотация: В высоковакуумных экспериментах (Р = 5*10-10 мбар) под острием сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) на поверхности окисленного титана обнаружено формирование оксидных суперкластеров с размерами до нескольких десятков нанометров. Установлены зависимости размеров нанокластеров от основных параметров сканирования (величины, полярности и длительности импульсов напряжения, подававшихся на наноконтакт). Показано, что рост оксидных суперкластеров возможен как при положительных, так и при отрицательных значениях полярности. Полученные результаты, расширяющие возможности современной зондовой литографии, - первый пример формирования в условиях сверхвысокого вакуума на поверхности окисленных металлов наноразмерных оксидных структур
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Митюхляев В. Б., Раков А. В., Тодуа П. А., Филиппов М. Н., Шаронов В. А.
Заглавие : Влияние контаминации в РЭМ на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 2. - С. 2-6: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 6 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Представлены результаты исследований влияния контаминации в РЭМ S-4800 на профиль рельефных элементов меры нанометрового диапазона МШПС-2.0К. Показано, что в результате электронного облучения изменяется форма профиля рельефных элементов, представлены зависимости их параметров от дозы электронного облучения для разных режимов облучения
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 95
Автор(ы) : Кучеренко М. Г., Кислов Д. А., Чмерева Т. М.
Заглавие : Возможности улучшения характеристик сканирующего ближнепольного оптического микроскопа за счет плазмонно-резонансного увеличения скорости безызлучательного переноса энергии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - № 3-4. - С. 111-117: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 117 (32 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Обсуждается проблема повышения качества изображения, создаваемого сканирующим ближнепольным оптическим микроскопом с FRET-модулем (Forster Resonance Energy Transfer). Анализируется возможность улучшенного разрешения ближнепольного оптического микроскопа за счет эффекта FRET, а также формирование высококачественных изображений нанообъектов на основе сигналов повышенной интенсивности, получаемых за счет плазмонного резонанса в специально сформированных металлических наноструктурах (антеннах плазмонного резонанса). Приведены результаты исследований безызлучательного переноса энергии электронного возбуждения между молекулами, размещенными вблизи плоской поверхности проводника, металлического наноцилиндра нанометрового радиуса и около сферической наночастицы. В простейшей модели влияние границы проводящей фазы учитывается введением эффективного диполя-изображения. Для антенн — сфероидных наночастиц более адекватным представлением отклика является формализм мультипольных поляризуемостей
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Раков А. В., Тодуа П. А., Филиппов М. Н., Шаронов В. А.
Заглавие : Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 2-5: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 5 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): доза электронного облучения--элементы рельефные--контаминация--микроскоп низковольтный растровый электронный
Аннотация: Представлены результаты исследований влияния контаминации в РЭМ S-4800 при энергии электронов 1 кэВ на профиль рельефных элементов меры МШПС-2.0К. Показано, что в результате электронного облучения увеличивается ширина нижнего основания рельефных элементов и получены зависимости ширины нижнего основания от дозы электронного облучения при разных режимах облучения. Приведены результаты влияния режима облучения на толщину контаминационной пленки
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 33
Автор(ы) : Гатин А. К., Гришин М. В., Кирсанкин А. А., Харитонов В. А., Шуб Б. Р.
Заглавие : Единичные наночастицы алюминия, золота, никеля и платины, осажденные на поверхности пиролитического графита
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 39-45: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 45 (28 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): графит пиролитический--спектроскоп--микроскоп--наночастицы алюминия, золота, никеля и платины--оже-спектроскопия--масс-спектрометрия --методы сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии--водород--наночастицы
Аннотация: Методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, а также оже-спектроскопии и масс-спектрометрии определены физико-химические свойства наночастиц алюминия, золота, никеля и платины. Установлены их геометрические размеры, электронное строение, химический состав поверхности. На примере взаимодействия водорода с наночастицами золота, никеля и платины определены теплота адсорбции и эффективная энергия активации
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 17
Автор(ы) : Бодунов Д. С., Заблоцкий А. В., Гавриленко В. П., Кузин А. А., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Раков А. В., Тодуа П. А., Филиппов М. Н.
Заглавие : Калибровка просвечивающих электронных микроскопов с помощью ГСО 10030—2011
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 3. - С. 11-13: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 13 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскоп просвечивающий электронный jem-2100 --калибровка--образец стандартный--неопределенность измерений при калибровке
Аннотация: Изложены результаты калибровки просвечивающего электронного микроскопа JEM-2100 с помощью стандартного образца ГСО 10030—2011, разработанного и изготовленного в Научно-исследовательском центре по изучению свойств поверхности и вакуума, при номинальном значении увеличения 30 000 крат. Относительная расширенная (коэффициент охвата k = 2) неопределенность измерений при калибровке составила 0,5 %
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ч-19
Автор(ы) : Чаплыгин Ю. А., Шевяков В. И.
Заглавие : Исследование влияния конструктивных параметров кантилеверов на чувствительность метода магнитной силовой микроскопии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 3-4. - С. 71-75: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 75 (12 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кантилевер--метод магнитной силовой микроскопии--толщина магнитного покрытия --частицы железа --микроскоп
Аннотация: Представлены результаты исследования влияния конструктивных параметров кантилеверов на чувствительность метода магнитной силовой микроскопии. Показано, что для обеспечения максимальной чувствительности метода необходимо использовать кантилеверы с толщиной магнитного покрытия и жесткостью балки, лежащей в диапазоне от 0.1 до 1.0 Н/м. При использовании данных кантилеверов удалось зарегистрировать локально расположенные однодоменные частицы железа размером ~50 нм
Найти похожие

19.

Вид документа :
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Гоголинский К. В., Губский К. Л., Кузнецов А. П., Решетов В. Н.
Заглавие : Исследование источников случайных погрешностей в измерительном сканирующем зондовом микроскопе «НаноСкан-3Di»
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 56-59: рис., табл.
Примечания : Библиогр.: с. 59 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диапазон нанометровый --микроскоп сканирующий зондовый --микроскоп «наноскан-3di»--погрешности-- интерферометр трехкоординатный гетеродинный лазерный--воспроизводимость
Аннотация: Кратко описано устройство и принцип работы измерительного сканирующего зондового микроскопа «НаноСкан-3Di». Прибор создан путем сопряжения серийного СЗМ «НаноСкан-3D» и трехкоординатного гетеродинного лазерного интерферометра. Проведено исследование метрологических характеристик и основных источников случайных погрешностей данного измерительного комплекса. Экспериментальные исследования продемонстрировали высокую воспроизводимость и низкий уровень шумов при измерениях линейных размеров в нанометровом диапазоне
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 78
Автор(ы) : Гоц С. С., Бахтизин Р. З., Журавлев Г. И., Севницкий С. А.
Заглавие : Проблемы метрологического обеспечения методики измерений структуры твердых образцов на атомно-силовом микроскопе с нанометровым разрешением
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 60-63: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 63 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Дескрипторы: ДИФРАКТОМЕТРЫ--МИКРОСКОП АТОМНО-СИЛОВОЙ--РАЗРЕШЕНИЕ НАНОМЕТРОВОЕ --ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ ОПТИЧЕСКИЕ --НАНОМЕТР--КАЛИБРОВКА
Аннотация: Рассмотрены проблемы метрологического обеспечения при создании методики измерения структуры твердых тел с нанометровым разрешением. Показано, что для калибровки атомно-силовых микроскопов в настоящее время используются эталонные меры длины, созданные на основе волновых методов. Применяемые в настоящее время оптические интерферометры, рентгеновские дифрактометры и другие волновые методы пока не способны обеспечить получение эталонных мер длины в 1 нм и менее. В связи с этим имеющиеся литературные данные о межатомных расстояниях твердых тел пока нельзя рассматривать как точные численные оценки истинных значений
Найти похожие

21.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 91
Автор(ы) : Пушин В. Г.
Заглавие : Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 104 (16 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанодиагностика--нанотехнологии--микроскопия--материалы наноструктурные и нанофазные--погрешность--микроскоп--методы электронной дифракции --наноматериал --дифракция
Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН
Найти похожие

22.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 37
Автор(ы) : Гатин А. К., Гришин М. В., Кирсанкин А. А., Кожушнер М. А., Посвянский В. С., Харитонов В. А., Шуб Б. Р.
Заглавие : Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 51-60: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 60 (26 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки тонкие оксидные--микроскоп туннельный--структура --пленки--стм
Аннотация: В работе представлен способ определения локальных толщин и параметров электронной структуры тонких оксидных пленок, а также абсолютных значений расстояния между острием сканирующего туннельного микроскопа и поверхностью исследуемого образца
Найти похожие

23.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 51.007.57/К 27
Автор(ы) : Карташев В. А., Карташев В. В.
Заглавие : Учет геометрии острия иглы для коррекции измерений туннельного микроскопа
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 2-4. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 4 (6 назв.)
УДК : 51.007.57
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): зондовая микроскопия--туннельный микроскоп--интерпретация измерений стм--форма острия иглы
Аннотация: Ошибки измерений нанорельефа поверхности туннельным микроскопом обусловлены особенностями работы пьезоприводов и системы управления движением зонда. В результате на изображении измеренной поверхности возможно появление объектов, которые в реальности отсутствуют. Учет геометрии острия иглы при интерпретации измерений позволяет существенно уменьшить вклад указанных ошибок. Рассмотрено действие этого фильтра на примере искажений, возникающих при сканировании элементов рельефа с большими изменениями наклона поверхности
Найти похожие

24.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ф 15
Автор(ы) : Фадеев М.
Заглавие : Решения для высококачественного анализа микро- и наноструктур
Место публикации : Наноиндустрия. - 2014. - № 1(47). - С. 26-32. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пробоподготовка--просвечивающий--электронный микроскоп--сканирующий электронный микроскоп
Аннотация: Необходимым условием для качественного анализа микро- и наноструктур является правильная подготовка образцов. Проблема актуальна во многих высокотехнологичных областях: в полупроводниковом производстве, при изготовлении МЭМС и в научных исследованиях.
Найти похожие

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)