Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 15
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-15 
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   А 19


    Аверин, И. А.
    Исследование процессов рекристаллизации алюминиевой фольги — стадии получения пористого оксида алюминия / И. А. Аверин, И. А. Губич // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 6. - С. 26-28 : рис. - Библиогр.: с. 28 (11 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ -- ПОРИСТЫЙ ОКСИД АЛЮМИНИЯ -- ОТЖИГ ТЕРМИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ОПТИЧЕСКАЯ
Аннотация: Представлены результаты исследования процесса рекристаллизации алюминиевой фольги. Выявлены закономерности образования рекристаллизованных зерен при изменении температуры и времени отжига

Найти похожие

2.
Инвентарный номер: нет.
   
   В 58


   
    Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2 / С. И. Бочарова, М. В. Гапанович, Д. Н. Войлов, И. Н. Один, Г. Ф. Новиков // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 16-19 : рис., табл. - Библиогр.: с. 19 (13 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЧАСТИЦЫ -- ПЛЕНКИ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ CUiNSE2 -- СВОЙСТВА НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК -- РАСТВОРЫ ЭТАНОЛЬНЫЕ -- СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ -- АДГЕЗИЯ ПЛЕНОК -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- ОБЛАСТЬ КОГЕРЕНТНОГО РАССЕЯНИЯ (ОКР) -- ПЛЕНКИ СИНТЕЗИРОВАННЫЕ ОДНОФАЗНЫЕ -- АСМ -- АНАЛИЗ РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ
Аннотация: Исследовано влияние потенциалов и времени электрохимического осаждения из этанольных растворов на фазовый состав, структуру, оптические свойства и адгезию нанокристаллических пленок CuInSe2 (CIS). На основании данных рентгенофазового анализа (РФА) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) установлена область потенциалов, в которой происходит образование однофазных пленок CIS. В этой области наблюдалась наилучшая адгезия пленок к подложке стекло/Mo. Размер области когерентного рассеяния (ОКР) определен по данным РФА как 6 нм. Измерения АСМ показали, что пленки состоят из конгломератов (~200 нм) наночастиц, размер которых (<10 нм) зависит от времени и потенциала осаждения. Ширина запрещенной зоны синтезированных однофазных пленок оценена по спектрам оптического поглощения как 1.5 эВ

Найти похожие

3.
Инвентарный номер: нет.
   
   Г 12


    Гавриленко, В. П.
    Нанометрология – ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий / В. П. Гавриленко, П. А. Тодуа // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 47-55 : рис. - Библиогр.: с. 55 (19 назв.) . -
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНОЧАСТИЦ -- НАНОСТРУКТУР -- НАНОПОКРЫТИЯ -- ПЛЕНКИ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОДЫ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ
Аннотация: Размерные параметры наночастиц, наноструктур, нанопокрытий являются определяющими в характеризации объектов нанотехнологий. Одно из важнейших направлений нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано- и субнанометровом диапазонах. Представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость размерных измерений к единице длины в системе СИ методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии. Приведены результаты измерений толщин пленки окисла кремния методами спектроскопической эллипсометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Рассмотрены метрологические аспекты стандартизации в нанотехнологиях

Найти похожие

4.
Инвентарный номер: нет.
   
   Г 20


    Гареев, К. Г.
    Золь-гель-технологии направленного синтеза нанокомпозитов на основе наноразмерных магнитных частиц в порах изолирующей диэлектрической матрицы / К. Г. Гареев, И. Е. Грачева, В. А. Мошников // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 9-14 : рис. - Библиогр.: с. 14 (30 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОКОМПОЗИТЫ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ МАГНИТНЫЕ -- ФЕРРИТЫ -- СТРУКТУРА ИЕРАРХИЧЕСКАЯ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ МЕТОД -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- СИНТЕЗ НАНОКОМПОЗИТОВ -- МАТРИЦА
Аннотация: Рассмотрены особенности магнитных свойств нанокомпозитов и перспективы развития технологических приемов формирования магнитных нанокомпозитов, совместимых с операциями создания устройств нано- и микросистемной техники. Золь-гель-методом получены магнитные нанокомпозиты с образованием ферритовой нанофазы с иерархической структурой. Проведен комплексный анализ слоев нанокомпозитов в системах Fe—Ni—O—Si и Fe—Mn— O—Si с использованием методов тепловой десорбции, атомно-силовой микроскопии, дифракции быстрых электронов и вибрационной магнитометрии

Найти похожие

5.
Инвентарный номер: нет.
   
   Е 78


    Ерофеев, А. С.
    Кантилеверные биохимические анализаторы / А. С. Ерофеев, И. В. Яминский // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 45-48 : рис. - Библиогр. : с. 48 (14 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- АНАЛИЗАТОР БИОХИМИЧЕСКИЙ -- КАНТИЛЕВЕР -- НАТЯЖЕНИЕ ПОВЕРХНОСТНОЕ

Найти похожие

6.
Инвентарный номер: нет.
   
   И 88


   
    Использование методов фрактальной геометрии для анализа морфологических свойств и управления качеством получаемого информационного массива по результатам измерений наноразмерных объектов с использованием атомно-силового микроскопа / С. М. Аракелян [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 8-13 : рис. - Библиогр. : с. 13 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- РАЗМЕРНОСТЬ ФРАКТАЛЬНАЯ -- МЕТОД ФРАКТАЛЬНОЙ ГЕОМЕТРИИ -- АСМ-ИЗМЕРЕНИЯ
Аннотация: Методы атомно-силовой микроскопии (АСМ) получают все большее распространение в задачах исследования нанообъектов и наноструктур. Используемые подходы позволяют получать с высоким разрешением карту свойств поверхности. Для многих измерений принципиален вопрос об избыточности проводимых измерений и возможности управлением качеством получаемой информации. На основе методов фрактальной геометрии на примере одномерных зависимостей предложены методы управления качеством и точностью получаемого информационного массива на основе АСМ-измерений

Найти похожие

7.
Инвентарный номер: нет.
   
   И 88


   
    Исследование продуктов золь-гель-процессов в многокомпонентных оксидных системах, протекающих с образованием магнитных нанокомпозитов / К. Г. Гареев, И. Е. Грачева, Н. Е. Казанцева, В. В. Лучинин, В. А. Мошников, А. А. Петров // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 5-10 : рис., табл. - Библиогр.: с. 10 (26 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛ НАНОКОМПОЗИТНЫЙ -- ФЕРРИТ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ -- ДИФРАКЦИЯ БЫСТРЫХ ЭЛЕКТРОНОВ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МАГНИТОМЕТРИЯ ВИБРАЦИОННАЯ
Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии, электронной дифракции, Оже-спектроскопии и вибрационной магнитометрии исследованы продукты золь-гель-процессов, протекающих с образованием магнитных нано-композитов на основе простых и сложных ферритов со структурой типа шпинель

Найти похожие

8.
Инвентарный номер: нет.
   
   Л 73


   
    Локальное переключение в субмикронных полимерных пленках как причина формирования эмиссионных центров / А. М. Ярыжнов [и др.] // Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 35-37 : рис. - Библиогр. : с. 37 (4 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПЛЕНКА ПОЛИМЕРНАЯ -- ЭМИССИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ
Аннотация: Работа посвящена исследованию электропроводящих каналов, возникающих в тонких полимерных пленках при локальном переключении под воздействием ионных импульсов в вакууме. Произведена оценка минимальной величины заряда, достаточной для локального переключения (0,310-12 Кл). Величина удельного сопротивления отдельного канала равна 0,02 мкОмм. Показана связь электронной эмиссии из полимерный пленки с локальным переключением

Найти похожие

9.
Инвентарный номер: нет.
   
   М 54


   
    Методы зондовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света в исследовании взаимодействия нервных клеток и углеродных нанотрубок / И. И. Бобринецкий , В. К. Неволин , А. В. Ромашкин, А. С. Селезнев // Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 63-68 : рис. - Библиогр.: с. 68 (19 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ -- СОЕДИНЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА -- МЕТОДЫ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И СПЕКТРОСКОПИИ
Аннотация: Разработаны методики формирования интерфейса для электрического соединения нервных клеток и электронных схем посредством углеродных нанотрубок. Проведены коррелированные оптические и топографические исследования нервных клеток на поверхности электропроводящих пленок из углеродных нанотрубок (УНТ). Предложена методика идентификации формирования электрохимического интерфейса между клетками и нанотрубками методами атомно-силовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния

Найти похожие

10.
Инвентарный номер: нет.
   
   М 74


   
    Модификация зондовых датчиков-кантилеверов для атомно-силовой микроскопии методом фокусированных ионных пучков / С. М. Аракелян [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 4-8 : рис. - Библиогр. : с. 8 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОД ФОКУСИРОВАННЫХ ИОННЫХ ПУЧКОВ -- ДАТЧИКИ-КАНТИЛЕВЕРЫ ЗОНДОВЫЕ -- СОПРОТИВЛЕНИЕ РАСТЕКАНИЯ
Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований по модификации зондовых датчиков-кантилеверов для атомно-силовой микроскопии (АСМ) путем осаждения на поверхность балки кантилевера вольфрамового острия методом фокусированных ионных пучков (ФИП) с применением высокоселективной газовой химии. Показано, что полученные методом ФИП зонды длиной 5 мкм и радиусом закругления порядка 50 нм позволяют повысить точность измерений тестовых объектов. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов изготовления и модификации зондовых датчиков-кантилеверов АСМ, а также при исследовании структур микро-и наносистемной техники

Найти похожие

 1-10    11-15 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика