Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=НАНОДИАПАЗОН<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Кравчик В. Д. Метод контролируемого роста квантовых точек из коллоидного золота в системе СТМ / АСМ /В. Д. Кравчик, М. Б. Семенов, Н. Ю. Черепанова // Нанотехника, 2008. т.№ 2.-С.87-93
2.

Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ/В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия, 2008. т.№ 6.-С.22-26
3.

Ханген У. Наноинденторы HYSITRON - механическое тестирование в новом измерении/У. Ханген // Наноиндустрия, 2009. т.№ 3.-С.22-24
4.

Высокоточные меры линейных размеров в нанодиапазоне /Д. В. Щеглов, С. С. Косолобов, Л. И. Федина, Е. Е. Родякина, А. К. Гутаковский // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 7-8.-С.84-94
5.

Нанотехнологии. Термины и определения нанообъектов. Наночастица, нановолокно и нанопластина/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2013
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика