Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=НАНОДИАПАЗОН<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 77
Автор(ы) : Кравчик В. Д., Семенов М. Б., Черепанова Н. Ю.
Заглавие : Метод контролируемого роста квантовых точек из коллоидного золота в системе СТМ / АСМ
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 2. - С. 87-93: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 93 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанодиапазон--туннелирование частиц
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 76
Автор(ы) : Гавриленко В., Новиков Ю., Озерин Ю., Раков А., Тодуа П.
Заглавие : Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26: рис. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр. : с. 26 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Х 19
Автор(ы) : Ханген У.
Заглавие : Наноинденторы HYSITRON - механическое тестирование в новом измерении
Место публикации : Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 22-24: ил. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр. : с. 24 (2 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноиндентирование--нанодиапазон--микродиапазон
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 93
Автор(ы) : Щеглов Д. В., Косолобов С. С., Федина Л. И., Родякина Е. Е., Гутаковский А. К., Ситников С. В., Кожухов А. С., Загарских С. А., Копытов В. В., Ефграфов В. И., Шувалов Г. В., Матвейчук В. Ф., Латышев А. В.
Заглавие : Высокоточные меры линейных размеров в нанодиапазоне
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 84-94: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 94 (84 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанодиапазон--поверхность атомно-структурированная кристаллическая--кристалла--«степп-ифп-1»--средства измерений --размеры линейные
Аннотация: В статье проанализированы современные литографические методы создания мер нанометрового диапазона размеров и основные лимитирующие факторы применения таких мер. Показана перспективность создания высокоточных мер на основе атомно-структурированной кристаллической поверхности (содержащей моноатомные ступени), параметры которых привязаны (обеспечивают прослеживаемость размера длины) к кристаллографическим параметрам кристалла. Предложен метод создания таких мер, основанный на управлении морфологией поверхности монокристаллического кремния на атомном уровне за счет использования эффектов самоорганизации, возникающих на атомно-чистой поверхности при прогреве в сверхвысоком вакууме. Представлено описание комплекта высокоточных мер вертикальных размеров «СТЕПП-ИФП-1» в диапазоне размеров 0.31–31 нм с погрешностью во всем интервале измерений менее 0.05 нм. Разработанный комплект высокоточных мер после проведения государственных испытаний внесен в государственный реестр средств измерений как тип средства измерений № 48115-11 (Приказ Росстандарта № 6290 от 31.10.2011 г.)
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : ГОСТ Р 54622-2011!-126711
Ж/Н 25
Заглавие : Нанотехнологии. Термины и определения нанообъектов. Наночастица, нановолокно и нанопластина : ГОСТ Р 54622-2011/ISO/TS 27687:2008 : нац. стандарт Рос. Федерации . -Офиц. изд.- Введ. с 01.07.2013
Выходные данные : М.: Стандартинформ, 2013
Колич.характеристики :8 с
Коллективы : Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 61.01.37 + 81.13.30
ББК : Жя861 + Ж600.3я861
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ-- ОБЩАЯ ТЕХНОЛОГИЯ-- ОСНОВЫ ПРОМЫШЛЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика