Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИГД УрО РАН
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (5)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (1)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=НАНОМЕТРОЛОГИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 11
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-11 
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 13

    Кадушников, Р.
    Информационно-аналитический инструментарий для национальной наноиндустрии [Текст] / Р. Кадушников, С. Сомина // Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 32-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (6 назв.) . - ISSN 1993-8578
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНООБЪЕКТЫ
Аннотация: Бурный рост исследований в России в сфере нанотехнологий и планируемый широкомасштабный переход от лабораторного уровня к промышленному производству изделий требует решения проблемы метрологического обеспечения и качественного контроля параметров выпускаемой продукции. Откликом на эту потребность явилась разработка концепции многомасштабного анализа и моделирования наноматериалов и устройств, реализацией которой стал аналитический комплекс SIAMS-CP Nanotech, созданный компанией SIAMS совместно с Центром фотохимии РАН

Найти похожие
2.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 63

   
    Компьютерное моделирование средств измерений в нанометрологии / А. В. Заблоцкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 8. - С. 2-6 : рис. - Библиогр. : с. 6 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АСМ -- РЭМ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ

Найти похожие
3.
Инвентарный номер: U-12898 - ч/з.
   623
   F 97

   
    Fundamentals of Nanotechnology [Text] : монография / G. L. Hornyak [et al.]. - Boca Raton [et al.] : CRC Press, 2009. - XXVIII, 780 p. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 769-770. - ISBN 978-1-4200-4803-2 : 2064.00 р.
ГРНТИ
81.09
ББК 623.7я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Найти похожие
4.
Инвентарный номер: нет.
   
   П 76

   
    Применение виртуального растрового электронного микроскопа для определения диаметра проецирующей микролинзы атомного нанолитографа / А. В. Заболоцкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 2-7 : рис. - Библиогр. : с. 7 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЭМ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- ОПТИКА АТОМНАЯ -- НАНОЛИТОГРАФИЯ

Найти похожие
5.
Инвентарный номер: 208858 - кх.
   В34
   Н 15

    Навотный, Лукас.
    Основы нанооптики [] : учебник : пер. изд. / Л. Навотный, Б. Хехт ; под ред. В. В. Самарцева ; пер. с англ. А. А. Коновко, О. А. Шутовой. - М. : Физматлит, 2009. - 482 с. - Предм. указ.: с. 469-482. - Пер. изд. : Principles of nano-optics / L. Novotny, B. Hecht. - Cambrige, 2006. - ISBN 978-5-9221-1095-2 : 613.60 р.
ГРНТИ
29.31
ББК В34я73
Рубрики: ФИЗИКА--ОПТИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие
6.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 28

    Батурин, А. С.
    Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе / А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7 : рис., табл. - Библиогр. : с. 7 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АСМ -- ЕМКОСТЬ -- ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ
Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением

Найти похожие
7.
Инвентарный номер: нет.
   
   Н 47

   
    Некоторые особенности измерений линейных размеров наночастиц золота в разных физических состояниях / С. Н. Григорьев [и др.] // Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 38-45 : рис., табл. - Библиогр. : с. 45 (13 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛЫ НАНОКОМПОЗИТНЫЕ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНОЧАСТИЦЫ
Аннотация: Проведено сравнение линейных размеров наночастиц (НЧ) золота, измеренных с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ), сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и динамического рассеяния света (ДРС). НЧ золота получены методом химического восстановления в водной среде, в качестве восстановителей и стабилизаторов использовали карбоксиметилцеллюлозу (КМЦ), метигидроксиэтилцеллюлозу (МГЭЦ) и цитрат натрия. Наибольшие расхождения в значении средних размеров НЧ золота, определенных всеми методами, обнаружены в системе «Au-КМЦ», где наблюдается бимодальное распределение размеров НЧ. Во всех случаях средние размеры частиц (D), определенные тремя методами, располагаются в следующем порядке D(ДРС-интенсивность) > D(СТМ) > D(ПЭМ) > D(ДРС-по числу частиц). Ширина ДРС-распределений по сравнению с данными ПЭМ и СТМ существенно завышена. Обсуждаются возможные причины таких расхождений. Рассмотрены сравнительные достоинства и недостатки примененных методов, и отмечено, что хотя ДРС является на сегодняшний день единственным инструментом для невозмущающей и чувствительной диагностики НЧ в жидких средах, получение количественных результатов с его помощью является достаточно сложной задачей. Сделан вывод, что при нанесении исследуемых наносистем на твердую поверхность в процессе испарения растворителя и формирования компактного слоя из НЧ золота их размер практически не меняется. Измеренные толщины стабилизирующих оболочек (d) располагаются в следующем порядке: d(КМЦ) > d(МГЭЦ) > d(цитрат), который хорошо согласуется с молекулярной массой стабилизаторов

Найти похожие
8.
Инвентарный номер: 214280 - пф.
   621
   С 32

    Сергеев, Алексей Георгиевич.
    Нанометрология [] : монография / А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2012. - 413 с. : рис. - Библиогр.: с. 409-413. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 457.60 р.
Прил.: с. 397-408
ГРНТИ
90
ББК 621.0
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ

Найти похожие
9.
Инвентарный номер: нет.
   
   Г 12

    Гавриленко, В. П.
    Нанометрология – ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий / В. П. Гавриленко, П. А. Тодуа // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 47-55 : рис. - Библиогр.: с. 55 (19 назв.) . -
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНОЧАСТИЦ -- НАНОСТРУКТУР -- НАНОПОКРЫТИЯ -- ПЛЕНКИ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОДЫ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ
Аннотация: Размерные параметры наночастиц, наноструктур, нанопокрытий являются определяющими в характеризации объектов нанотехнологий. Одно из важнейших направлений нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано- и субнанометровом диапазонах. Представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость размерных измерений к единице длины в системе СИ методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии. Приведены результаты измерений толщин пленки окисла кремния методами спектроскопической эллипсометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Рассмотрены метрологические аспекты стандартизации в нанотехнологиях

Найти похожие
10.
Инвентарный номер: 218717 - пф.
   Ж1
   М 54

   
    Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.
ГРНТИ
90
ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие
 1-10    11-11 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика