Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИГД УрО РАН
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (5)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (1)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=НАНОМЕТРОЛОГИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 11
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-11 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 13
Автор(ы) : Кадушников Р., Сомина С.
Заглавие : Информационно-аналитический инструментарий для национальной наноиндустрии
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 32-35: рис., табл. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр.: с. 35 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанометрология--нанообъекты
Аннотация: Бурный рост исследований в России в сфере нанотехнологий и планируемый широкомасштабный переход от лабораторного уровня к промышленному производству изделий требует решения проблемы метрологического обеспечения и качественного контроля параметров выпускаемой продукции. Откликом на эту потребность явилась разработка концепции многомасштабного анализа и моделирования наноматериалов и устройств, реализацией которой стал аналитический комплекс SIAMS-CP Nanotech, созданный компанией SIAMS совместно с Центром фотохимии РАН
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/К 63
Автор(ы) : Заблоцкий А. В., Батурин А. С., Шешин Е. П., Бормашов В. С., Нагирный В. П., Коростылев Е. В.
Заглавие : Компьютерное моделирование средств измерений в нанометрологии
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 8. - С. 2-6: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 6 (6 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): асм--рэм--нанометрология
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/F 97
Автор(ы) : Hornyak, Gabor L., Moore, John J., Tibbals, Harry F., Dutta, Joydeep
Заглавие : Fundamentals of Nanotechnology
Выходные данные : Boca Raton [et al.]: CRC Press, 2009
Колич.характеристики :XXVIII, 780 с.: ил.
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 769-770
ISBN, Цена 978-1-4200-4803-2: 2064.00 р.
ГРНТИ : 81.09
ББК : 623.7я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :ч/з(1)
Свободны : ч/з(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/П 76
Автор(ы) : Заболоцкий А. В., Мелентьев П. Н., Шешин Е. П., Батурин А. С., Балыкин В. И., Коростылев Е. В., Лапшин Д. А., Кузин А. А.
Заглавие : Применение виртуального растрового электронного микроскопа для определения диаметра проецирующей микролинзы атомного нанолитографа
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 2-7: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 7 (15 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В34/Н 15
Автор(ы) : Навотный, Лукас, Хехт, Берт
Заглавие : Основы нанооптики : учебник : пер. изд.
Выходные данные : М.: Физматлит, 2009
Колич.характеристики :482 с
Перевод издания: Novotny L. Principles of nano-optics/ L. Novotny, B. Hecht. -Cambrige, 2006
Примечания : Предм. указ.: с. 469-482
ISBN, Цена 978-5-9221-1095-2: 613.60 р.
ГРНТИ : 29.31
ББК : В34я73
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ОПТИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 28
Автор(ы) : Батурин А. С., Чуприк А. А.
Заглавие : Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 7 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): асм--емкость--характеристики вольт-фарадные--нанометрология
Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Н 47
Автор(ы) : Григорьев С. Н., Лоскутов А. И., Ошурко В. Б., Урюпина О. Я., Шамурина М. В.
Заглавие : Некоторые особенности измерений линейных размеров наночастиц золота в разных физических состояниях
Место публикации : Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 38-45: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 45 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Проведено сравнение линейных размеров наночастиц (НЧ) золота, измеренных с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ), сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и динамического рассеяния света (ДРС). НЧ золота получены методом химического восстановления в водной среде, в качестве восстановителей и стабилизаторов использовали карбоксиметилцеллюлозу (КМЦ), метигидроксиэтилцеллюлозу (МГЭЦ) и цитрат натрия. Наибольшие расхождения в значении средних размеров НЧ золота, определенных всеми методами, обнаружены в системе «Au-КМЦ», где наблюдается бимодальное распределение размеров НЧ. Во всех случаях средние размеры частиц (D), определенные тремя методами, располагаются в следующем порядке D(ДРС-интенсивность) D(СТМ) D(ПЭМ) D(ДРС-по числу частиц). Ширина ДРС-распределений по сравнению с данными ПЭМ и СТМ существенно завышена. Обсуждаются возможные причины таких расхождений. Рассмотрены сравнительные достоинства и недостатки примененных методов, и отмечено, что хотя ДРС является на сегодняшний день единственным инструментом для невозмущающей и чувствительной диагностики НЧ в жидких средах, получение количественных результатов с его помощью является достаточно сложной задачей. Сделан вывод, что при нанесении исследуемых наносистем на твердую поверхность в процессе испарения растворителя и формирования компактного слоя из НЧ золота их размер практически не меняется. Измеренные толщины стабилизирующих оболочек (d) располагаются в следующем порядке: d(КМЦ) d(МГЭЦ) d(цитрат), который хорошо согласуется с молекулярной массой стабилизаторов
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621/С 32
Автор(ы) : Сергеев, Алексей Георгиевич
Заглавие : Нанометрология
Выходные данные : М.: Логос, 2012
Колич.характеристики :413 с.: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 409-413. - Прил.: с. 397-408
ISBN, Цена 978-5-98704-494-0: 457.60 р.
ГРНТИ : 90
ББК : 621.0
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие
9.

Вид документа :
Шифр издания : 620.3/Г 12
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Тодуа П. А.
Заглавие : Нанометрология – ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 47-55: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 55 (19 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанометрология --наночастиц--наноструктур--нанопокрытия--пленки--микроскопия атомно-силовая--методы спектроскопической эллипсометрии
Аннотация: Размерные параметры наночастиц, наноструктур, нанопокрытий являются определяющими в характеризации объектов нанотехнологий. Одно из важнейших направлений нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано- и субнанометровом диапазонах. Представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость размерных измерений к единице длины в системе СИ методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии. Приведены результаты измерений толщин пленки окисла кремния методами спектроскопической эллипсометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Рассмотрены метрологические аспекты стандартизации в нанотехнологиях
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж1/М 54
Заглавие : Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : учебное пособие для вузов
Выходные данные : М.: Логос, 2011
Колич.характеристики :590 с
ISBN, Цена 978-5-98704-613-5: 1100.00 р.
ГРНТИ : 90
ББК : Ж10я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие
 1-10    11-11 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика