Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (37)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (4)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (10)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (34)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (13)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (136)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (31)Расплавы (52)Публикации Черешнева В.А. (1)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (30)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ТЕМПЕРАТУРА<.>)
Общее количество найденных документов : 39
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-39 
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 43


    Белозубов, Е. М.
    Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов [Текст] / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 9. - С. 33-36 : рис. - Библиогр.: с. 36 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ЕМКОСТНЫЕ МЭМС-СТРУКТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВИБРОУСКОРЕНИЯ -- ВЫВОДНОЙ ПРОВОДНИК -- КОНТАКТНАЯ ПЛОЩАДКА -- ЭЛЕКТРОД -- ИЗМЕРЕНИЕ ТЕМПЕРАТУР ЭЛЕКТРОДОВ

Найти похожие

2.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 89


    Штенников, В. Н.
    К вопросу развития научного направления по пайке электронных приборов / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 30-31 : рис. - Библиогр. : с. 31 (13 назв.)
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МСТ -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА

Найти похожие

3.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 89


    Штенников, В. Н.
    Оценка времени и температуры пайки электронных приборов / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 15-17 : ил. - Библиогр. : с. 17 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВРЕМЯ

Найти похожие

4.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 89


    Штенников, В. Н.
    Международные стандарты IPC о паяльных стержнях из стали / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 28-29. - Библиогр. : с. 29 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА

Найти похожие

5.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 43


    Белозубов, Е. М.
    Тонкопленочные тензорезисторные микроэлектромеханические системы с идентичными тензоэлементами / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, В. А. Васильев // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 34-39 : рис. - Библиогр. : с. 39 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: МЕХАНИКА
Кл.слова (ненормированные):
МЭМС (ТТМЭМС) -- ТЕНЗОЭЛЕМЕНТЫ ИДЕНТИЧНЫЕ -- ТЕМПЕРАТУРА НЕСТАЦИОНАРНАЯ

Найти похожие

6.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 43


    Белозубов, Е. М.
    Тонкопленочные тензорезисторные микроэлектромеханические системы с идентичными тензоэлементами и мембранами, имеющими жесткий центр / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 38-42 : рис. - Библиогр. : с. 42 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ФИЗИКА--МЕХАНИКА
Кл.слова (ненормированные):
ТТМЭМС -- МЭМС ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНЫЕ -- ТЕНЗОЭЛЕМЕНТЫ ИДЕНТИЧНЫЕ -- ТЕМПЕРАТУРА НЕСТАЦИОНАРНАЯ

Найти похожие

7.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 89


    Штенников, В. Н.
    Влияние длины паяльного стержня на температуру контактной пайки / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 29-31 : табл. - Библиогр. : с. 31 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР ЭЛЕКТРОННЫЙ -- КАЧЕСТВО -- ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ
Аннотация: Описаны результаты исследований по влиянию длины паяльного стержня на температуру контактной пайки, которая оказывает pешающее влияние на качество паяных соединений

Найти похожие

8.
Инвентарный номер: нет.
   
   А 94


    Штенников, В. Н.
    Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции

Найти похожие

9.
Инвентарный номер: нет.
   
   Н 25


   
    Нанослои полипиромеллитимидных ориентантов жидких кристаллов для устройств органической электроники / Е. С. Кузьменко, А. А. Жуков, Е. П. Пожидаев, И. Н. Компанец // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 1-2 . - С. 112-116 : рис., табл. - Библиогр. : с. 116 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОСЛОИ ПОЛИПИРОМЕЛЛИТИМИДНЫЕ -- ОРИЕНТАНТЫ ДЛЯ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ -- УСТРОЙСТВА ОРГАНИЧЕСКОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
Аннотация: Исследована структура, термодинамические и оптические свойства полипиромеллитимидных нанослоев толщиной 8-23 нм, полученных на поверхности полупроводника путем нанесения на центрифуге из растворов преполимеров, и их последующей имидизации при температурах до 453 К. Обнаружено, что с уменьшением толщины нанослоев температура и время их имидизации резко понижаются. Показано, что слои полиимида толщиной менее 10 нм на поверхности полупроводника являются не сплошными, а самоорганизующимися разрывными покрытиями с характерными размерами полимерных островков в плоскости подложки порядка сотен нанометров. Доказана возможность использования указанных сплошных и разрывных нанослоев поверхности полупроводника в качестве ориентантов для жидких кристаллов, используемых при изготовлении гибких дисплеев

Найти похожие

10.
Инвентарный номер: нет.
   
   В 58


   
    Влияние условий формирования и толщины слоев на термодеформационные характеристики полиимид-кремниевых упруго-шарнирных балок тепловых актюаторов / А. С. Корпухин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 2. - С. 34-40 : рис. - Библиогр. : с. 40 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АКТЮАТОР ТЕПЛОВОЙ -- ХАРАКТЕРИСТИКИ ТЕРМОДЕФОРМАЦИОННЫЕ -- КРЕМНИЙ -- ПОЛИИМИД
Аннотация: Исследовано влияние условий формирования и толщины полиимидного слоя, состояния балки в процессе его имидизации, а также природы и толщины функционального металлического слоя на начальный угол отклонения слоистых композиционных упруго-шарнирных полиимид-кремниевых консольных балок тепловых актюаторов и его изменение при нагревании и охлаждении. Установлено, что с точки зрения направленного регулирования этих характеристик важнейшую роль играют температура имидизации и толщина полиимидных слоев в упруго-шарнирной области, а также свободное или заневоленное состояние балок в процессе имидизации. Функциональные слои металлов толщиной порядка 0,1 мкм незначительно влияют на термодеформационные характеристики балок, а при увеличении их толщины - резко ухудшают эти параметры

Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-39 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика