Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (21)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Книжная коллекция Шубиных (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (7)Труды Института истории и археологии УрО РАН (1)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (7)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (54)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (46)Расплавы (11)Публикации Чарушина В.Н. (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=FILMS<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Инвентарный номер: U-11973 - кх.
   541.1
   P 61


    Pietsch, Ullrich (1952-).
    High-Resolution X-Ray Scattering. From Thin Films to Lateral Nanostructures [Text] : научное издание / U. Pietsch, V. Holy, T. Baumbach. - Second Ed. - [New York et al.] : Springer, 2004. - XVI, 408 с. : ил. - (Physics and Astronomy Online Library) (Advanced Texts in Physics). - Библиогр.: с. 390-402. - Указ.: с. 403-408. - ISBN 0-387-40092-3 : 3034.00 р.
ГРНТИ
ББК 541.171 + В341.94 + 539.212.174
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
   ФИЗИКА--ОПТИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА -- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА -- ТВЕРДОЕ ТЕЛО (ОБЛУЧЕНИЕ) -- РАССЕИВАНИЕ ЛУЧЕЙ РЕНТГЕНОВСКИХ (ТВЕРДОЕ ТЕЛО) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ОБЛУЧЕНИЕ)

Найти похожие

2.
Инвентарный номер: U-13330 - кх.
   539.2
   M 94


    Multilayer Thin Films [Text] / Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. - Wienheim : Wiley-VCH, [2012] - .
   [Pt. 1] : [Preparation and Charcterization]. - [2012]. - XXXIV, 469 p. - ISBN 978-3-527-31648-9 : 7788.00 р.
ГРНТИ
ББК 539.2 + 541.171
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
   ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА


Найти похожие

3.
Инвентарный номер: U-13331 - кх.
   539.2
   M 94


    Multilayer Thin Films [Text] / Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. - Wienheim : Wiley-VCH, [2012] - .
   [Pt. 2] : [Applications]. - [2012]. - XXXIV, 471-1088 p. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 1053-1088. - ISBN 978-3-527-31648-9 : 7788.00 р.
ГРНТИ
ББК 539.2 + 541.171
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
   ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА


Найти похожие

4.
Инвентарный номер: 220190 - кх.
   541.1
   Ф 94


   
    Фундаментальные основы процессов химического осаждения пленок и структур для наноэлектроники [] : монография / РАН, СО, Ин-т неорганической химии им. А. В. Николаева [и др.] ; отв. ред. Т. П. Смирнова. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2013. - 175 с. - (Интеграционные проекты СО РАН ; вып. 37). - Загл. на доп.тит.листе : Fundamental bases of chemical vapour deposition procesess of films and structures for nanoelectronics. - Библиогр.: с. 156-171. - ISBN 978-5-7692-0669-6 : 830.00 р.
ГРНТИ
ББК 541.171
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА

  Оглавление
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика